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半導體前道工藝設(shè)備: 耗材 7 真空互聯(lián)系統(tǒng) 6 晶圓鍵合工藝設(shè)備 5 刻蝕設(shè)備 4 外延系統(tǒng) 3 CVD 2 PVD 1 光刻設(shè)備

其他前道工藝設(shè)備: 7 CMP 9 倒片機 3 鍍膜設(shè)備 8 氧化設(shè)備、退火設(shè)備 10 其他 6 清洗設(shè)備 5 去膠設(shè)備 4 離子注入設(shè)備 1 蒸發(fā)設(shè)備 2 真空干燥設(shè)備

掃描電鏡SEM
掃描電鏡SEM簡介：FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導體、電子...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 16:26:49 對比

掃描電鏡SEM 半導體測量
離子研磨系統(tǒng)
離子研磨系統(tǒng) 產(chǎn)品概述：為了對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行觀察、分析，必須讓樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)顯露出來，日立離子研磨裝置使用大面積低能量的Ar離子束，加工出無應(yīng)力損傷的截面，為S...
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離子研磨系統(tǒng)研磨機

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