光學(xué)元件表面檢測(cè) 參考價(jià)：面議
ARGOS光學(xué)元件表面檢測(cè)根據(jù)ISO 10110-7 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)，能顯著減輕質(zhì)檢員費(fèi)時(shí)、費(fèi)力進(jìn)行表面缺陷檢驗(yàn)的工作 質(zhì)檢員可通過測(cè)試結(jié)果，給出生產(chǎn)線上的糾...
光纖端面缺陷檢測(cè) 參考價(jià)：面議
光纖端面缺陷檢測(cè)依據(jù)ISO10110-7標(biāo)準(zhǔn)，可快速探測(cè)整個(gè)光纖端面，檢測(cè)的缺陷類型為鍍膜孔，劃痕，崩邊等，并可探測(cè)激光的損傷。具有高分辨率，快速測(cè)試時(shí)間和處理...
GU OPTICS Super系列高精度光電自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：204240
GU OPTICS Super系列高精度光電自準(zhǔn)直儀是精度、穩(wěn)定性和易用性達(dá)到高效結(jié)合的新一代光電自準(zhǔn)直儀系列產(chǎn)品，是精密機(jī)械制造和精密光學(xué)裝配環(huán)節(jié)的理想角度測(cè)...
SUPER-G系列光電自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：238000
SUPER-G系列光電自準(zhǔn)直儀系列產(chǎn)品是應(yīng)用數(shù)字技術(shù)的一種高精度測(cè)量儀器，經(jīng)過多年的發(fā)展現(xiàn)有多個(gè)系列化產(chǎn)品以適應(yīng)不同客戶的應(yīng)用需求，產(chǎn)品具有精度高、性能穩(wěn)定和易...
GU OPTICS光電自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：58000
GU OPTICS光電自準(zhǔn)直儀利用光的自準(zhǔn)直原理，將角度測(cè)量轉(zhuǎn)換為線性測(cè)量，可以檢測(cè)直線度、平面度、垂直度、平行度等指標(biāo)，測(cè)角精度高達(dá)0.1角秒，多種焦距口徑可...
M²激光束質(zhì)量分析儀 參考價(jià)：面議
以色列DUMA公司提供的M²激光束質(zhì)量分析儀由七刀口式光束分析儀和移動(dòng)平臺(tái)組成，通過采集多個(gè)測(cè)量面實(shí)現(xiàn)對(duì)M²因子的測(cè)量，整體準(zhǔn)確度保持在&#...
BeamOn HR 1″光斑分析儀 參考價(jià)：53130
BeamOn HR 1"光斑分析儀是一款創(chuàng)新的高分辨率相機(jī)，具有2000萬像素，2.4 x 2.4微米像素尺寸，在近紅外NIR的光譜范圍靈敏度增強(qiáng)，光譜范圍可達(dá)...
光束分析儀BeamOn U3-E 參考價(jià)：51000
光斑分析儀Beam On U3-E：創(chuàng)新的光束分析儀 (1/1.2“)，由于BeamOn U3-E的特殊性，實(shí)際上是一個(gè)各種激光束的總測(cè)量站。
光斑分析儀 BeamOn WSR 參考價(jià)：49500
光斑分析儀 BeamOn WSR系統(tǒng)是一種用于連續(xù)或脈沖激光束實(shí)時(shí)測(cè)量的光束診斷測(cè)量系統(tǒng)。它用于測(cè)量激光束的各種參數(shù)，如：強(qiáng)度分布、束寬、形狀、位置和相對(duì)功率。...
IN系列激光功率探頭 參考價(jià)：7650
Infinity激光功率計(jì)使用的IN系列激光功率探頭，需要搭配lnfinity 表頭，探頭使用采用量熱型原理，對(duì)測(cè)量到的激光波長不敏感，可以測(cè)量波長0.2μm-...
OPM150功率計(jì)主機(jī) 參考價(jià)：6850
OPM150 功率計(jì)主機(jī)(100kHz)
OPM150功率計(jì)主機(jī) 參考價(jià)：6350
OPM150功率計(jì)主機(jī)（10KHz）
德國Artifex LIV激光二極管測(cè)試分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
德國Artifex LIV激光二極管測(cè)試分析系統(tǒng)，激光二極管測(cè)試分析系統(tǒng)包括：短脈沖測(cè)試系統(tǒng)-LIV100 和 脈沖/QCW/CW測(cè)試系統(tǒng)LIV120
德國Artifex光電激光功率計(jì) 參考價(jià)：面議
光功率計(jì)是利用光電效應(yīng)原理對(duì)光量進(jìn)行測(cè)量的一類測(cè)量儀器。德國Artifex光電激光功率計(jì)格低廉，簡單易用。是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量，激光應(yīng)用以及OEM的理想選擇。有Si硅，...
光學(xué)非接觸式測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
美國Bristol Instruments 光學(xué)非接觸式測(cè)厚儀，運(yùn)用邁克爾遜短相干干涉原理測(cè)量樣品厚度。精度高，穩(wěn)定性好，易于集成，響應(yīng)速度快。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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