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光學(xué)元件表面檢測(cè) 參考價(jià)：面議
ARGOS光學(xué)元件表面檢測(cè)根據(jù)ISO 10110-7 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)，能顯著減輕質(zhì)檢員費(fèi)時(shí)、費(fèi)力進(jìn)行表面缺陷檢驗(yàn)的工作 質(zhì)檢員可通過(guò)測(cè)試結(jié)果，給出生產(chǎn)線(xiàn)上的糾...
光纖端面缺陷檢測(cè) 參考價(jià)：面議
光纖端面缺陷檢測(cè)依據(jù)ISO10110-7標(biāo)準(zhǔn)，可快速探測(cè)整個(gè)光纖端面，檢測(cè)的缺陷類(lèi)型為鍍膜孔，劃痕，崩邊等，并可探測(cè)激光的損傷。具有高分辨率，快速測(cè)試時(shí)間和處理...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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