IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數(shù)： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀 參考價：面議
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設(shè)備擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點(diǎn)擊即可完成測試任務(wù)。系...
MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300 參考價：面議
MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀ITC57300ITC57300是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，采用測試主機(jī)+功能測試頭+個性板的測...
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT 參考價：面議
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT華科智源IGBT電參數(shù)測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊...
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 參考價：面議
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224該設(shè)備用于功率半導(dǎo)體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實...
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT 參考價：面議
IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，...
博達(dá)微FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
博達(dá)微FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備，在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、...
吉時利全自動半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 參考價：面議
吉時利全自動半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200A-SCS參數(shù)分析儀加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能...
力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動態(tài)測試系統(tǒng) 參考價：面議
LET-2000D力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動態(tài)測試系統(tǒng)是滿足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn)，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、...
同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀 參考價：面議
同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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