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半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測(cè)試系統(tǒng)-SPM900 參考價(jià)：300000
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測(cè)試系統(tǒng)-SPM900，PL測(cè)試是一種無損的測(cè)試方法，可以快速、便捷地表征半導(dǎo)體材料的缺陷、雜質(zhì)以及材料的發(fā)光性能。
半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)：自動(dòng)化顯微成像模組 參考價(jià)：200000
半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)：自動(dòng)化顯微成像模組，針對(duì)半導(dǎo)體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測(cè)量等各環(huán)節(jié)自動(dòng)化視覺檢測(cè)需求。
深紫外寬禁帶半導(dǎo)體熒光測(cè)試OminFluo990 參考價(jià)：面議
深紫外寬禁帶半導(dǎo)體熒光測(cè)試系統(tǒng)OminFluo990-DUV，基于我司20年左右的第三代半導(dǎo)體表征測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以有效地對(duì)寬禁帶與超寬禁帶半導(dǎo)體材料例如AlN和A...
深紫外光電流測(cè)試系統(tǒng)DSR300-DUV 參考價(jià)：面議
深紫外光電流測(cè)試系統(tǒng)DSR300-DUV，通過193的脈沖激光器或者等離子體光源+單色儀的連續(xù)193光源，對(duì)器件的光電流響應(yīng)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量速度約4KHZ，同時(shí)通...
SPM300半導(dǎo)體晶圓應(yīng)力與載流子濃度檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
卓立漢光SPM300半導(dǎo)體晶圓應(yīng)力與載流子濃度檢測(cè)儀，拉曼光譜作為一種非破壞性檢測(cè)技術(shù)，能夠高靈敏度地檢測(cè)材料中的應(yīng)力狀態(tài)。其原理基于光與材料內(nèi)化學(xué)鍵的相互作用...
晶圓缺陷參數(shù)檢測(cè) : 非接觸測(cè)試解決方案 參考價(jià)：面議
晶圓缺陷參數(shù)檢測(cè) : 非接觸測(cè)試解決方案，基于我司自主研發(fā)的激光自動(dòng)聚焦、自動(dòng)化顯微成像、寬場(chǎng)熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測(cè)試技術(shù)，聯(lián)合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測(cè)：寬場(chǎng)熒光顯微成像模組 參考價(jià)：面議
晶圓缺陷檢測(cè)：寬場(chǎng)熒光顯微成像模組，以自動(dòng)化顯微鏡模組為基礎(chǔ)，針對(duì) SiC 等化合物半導(dǎo)體晶圓位錯(cuò)、層錯(cuò)等缺陷檢測(cè)需求。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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