目錄:大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>非線性光學系列>>Z掃描測試系統(tǒng)>> Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100
| 應用領域 | 綜合 |
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Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100主要技術指標：
精密光學位移臺
速度 | 30mm/s |
最小分辨率 | 0.1μm |
重復定位精度 | ＜2μm |
功率探測器 | |
測試波長 | 350-1700nm |
功率檢測范圍 | 50nW-40mW |
抖動消除 | 參比雙通道信號同時采集 |
Z掃描測試系統(tǒng)-ZTS100應用實例：
實驗條件
樣品名稱 | 單晶硅 |
激發(fā)光波長 | 1030nm |
探測光波長 | 1030nm |
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術，致力于推動光譜技術在科研和工業(yè)領域的深入應用。在科研儀器領域，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?，是目前國?nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產(chǎn)-應用完整能力體系的團隊。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品，打破進口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導體檢測領域，公司以光譜技術創(chuàng)新為核心立足點，已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領域布局。
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