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菲希爾X射線測厚儀、XAN215
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，菲希爾X射線測厚儀,Fischer代理減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計(jì)用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測定24種元素。 |
| 重復(fù)性 | 測量金元素時(shí)≤1‰，測量時(shí)間60秒 |
| 形式設(shè)計(jì) | 臺(tái)式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
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