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LS13 320 全新微納米激光粒度分析儀應(yīng)用顆粒光散射原理,據(jù)光學(xué)理論推算顆粒粒度分布，主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析，其特點是粒度分析動態(tài)范圍寬、分辨...

zeta電位分析儀-顯微成像法采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。1、 一種模塊化工具，用于解決測量從10...

zeta電位分析儀-流動電位法是用多孔塞技術(shù)直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一...

高分辨率zeta電位分析儀WALLISζ是一種創(chuàng)新的zeta電位分析儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*的...

Spraylink高速噴霧粒度儀擁有10KHz的數(shù)據(jù)采集速率，能夠完成每秒10000次噴霧粒徑測量，從而動態(tài)捕捉0.1毫秒時間間隔的顆粒粒度分布。

粒度粒形儀,納米激光粒度儀應(yīng)用顆粒光散射原理,據(jù)光學(xué)理論推算顆粒粒度分布,主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析,其特點是粒度分析動態(tài)范圍寬,分辨能力高;操作簡便...