儀器介紹

早期，X熒光鍍層測厚分析儀基本被國外廠家（德國費希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開始做光譜儀，是一家專業(yè)生產(chǎn)光譜儀的廠家，在X熒光鍍層檢測方面，*打破國外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強器與數(shù)字多道分析器，在測試精度可以與進口設(shè)備PK過程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進口設(shè)備（費希爾，精工，牛津等）PK過程中不落下風(fēng)；儀器使用方便，測試快捷，可以測試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1、光學(xué)顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-20053、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005測量標準1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000    金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特點：1. 高精度移動平臺可準確定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm；2. 采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；3. φ0.2mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；4. 定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；5. 鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準確，微小測試點更準確；7. X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下，價格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護成本更低。 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行準確定位測試，其測試位置如圖。
 

X熒光鍍層測厚分析儀技術(shù)指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。