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美國GE保護(hù)膜探頭 詳細(xì)摘要： MB2S-EN MB2S B2S-EN B1S-E?美國GE保護(hù)膜探頭京海興樂科技（北京）有限公司公司主要提供UT（超聲）MT（磁粉）PT（滲透）RT（射線）等...
產(chǎn)品型號(hào)：MB2S-EN MB2S B2S-EN B1S-E 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-03-18 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
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產(chǎn)品型號(hào)：MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-03-18 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
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產(chǎn)品型號(hào)：B1S-EN B1S B2S B2.25SE 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-03-18 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
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產(chǎn)品型號(hào)：MB1S MB2S MB2S-EN 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-03-18 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
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產(chǎn)品型號(hào)：MB5S MB5S-O ES45 ES24 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-03-18 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
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ES45保護(hù)膜ES24美國GE探頭膜 詳細(xì)摘要： ES45保護(hù)膜ES24美國GE探頭膜ES45保護(hù)膜ES24美國GE探頭膜探頭保護(hù)膜 美國GE探頭膜保護(hù)膜（1套=10片）ES45（53756）用于B..S;ES...
產(chǎn)品型號(hào)：ES45 ES24 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-03-06 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
G5MN G10MN G15MN延遲塊直探頭 詳細(xì)摘要： G5MN G10MN G15MN延遲塊直探頭型號(hào) 頻率 近場(chǎng)距離 G5MN 5MHz 5mm；G10MN 10MHz 10mm；G15MN 15MHz 15mm
產(chǎn)品型號(hào)：G5MN G10MN G15MN 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-28 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙晶直探頭 雙晶探頭 詳細(xì)摘要： MSEK2 MSEK4 SEB10KF3-EN雙晶直探頭 雙晶探頭MSEB4S SEB4S GE歐規(guī)雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)...
產(chǎn)品型號(hào)：MSEK2 MSEK4 SEB10KF3-EN 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-24 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙晶直探頭 雙晶探頭 詳細(xì)摘要： DA0.8G SEZ5M5 SEK2C雙晶直探頭 雙晶探頭MSEB4S SEB4S GE歐規(guī)雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在...
產(chǎn)品型號(hào)：DA0.8G SEZ5M5 SEK2C 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-24 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
雙晶保護(hù)膜直探頭 詳細(xì)摘要： MSEB4S SEB4S GE歐規(guī)雙晶保護(hù)膜直探頭雙晶直探頭用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關(guān)鍵部位小缺...
產(chǎn)品型號(hào)：MSEB4S SEB4S 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-24 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
GE歐規(guī)雙晶保護(hù)膜直探頭 詳細(xì)摘要： MSEB2S SEB2S GE歐規(guī)雙晶保護(hù)膜直探頭雙晶直探頭用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關(guān)鍵部位小缺...
產(chǎn)品型號(hào)：MSEB2S SEB2S 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-24 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
GE歐規(guī)雙晶直探頭 詳細(xì)摘要： SEB4KF8 SEB10KF3 SEB10KF3-EN GE歐規(guī)雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或...
產(chǎn)品型號(hào)：SEB4KF8 SEB10KF3 SEB10KF3 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-24 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
GE歐規(guī)雙晶直探頭 詳細(xì)摘要： SEB2 SEB4KF8-EN SEB5KF3 GE歐規(guī)雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測(cè)棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體...
產(chǎn)品型號(hào)：SEB2 SEB4KF8-EN SEB5KF3 所在地：北京市 更新時(shí)間：2019-02-24 參考價(jià)： 面議 在線留言