進(jìn)口歐姆龍形狀測(cè)量傳感器 ，日本OMRON傳感器說明書

作為改進(jìn)課題之的測(cè)量速度已得到提高，因此即便是在高速線上也能使用本產(chǎn)品。
較寬的測(cè)量對(duì)象
通過連接2臺(tái)控制器，并使用2臺(tái)傳感器探頭同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，可zui大將測(cè)量范圍擴(kuò)大到140MM，
如果采用多臺(tái)連接測(cè)量方式，根據(jù)實(shí)際用途，歐姆龍將為用戶提供適合的連接方案實(shí)現(xiàn)*測(cè)量。
捕捉形狀玩去點(diǎn)測(cè)量
具有了將測(cè)量對(duì)象存在角度變化的部分識(shí)別為“彎曲點(diǎn)”的測(cè)量功能?？蓽y(cè)量物體上特征性的高低差和寬度。
測(cè)量交點(diǎn)位置、夾角
具有測(cè)量物體上兩條直線“交點(diǎn)坐標(biāo)”、“夾角”的功能。可效使用于對(duì)焊接物體進(jìn)行焊接火焰模擬控制。
可穩(wěn)定測(cè)量CCD及CMOS、水晶振動(dòng)元件的水晶片等的玻璃及表面反光零件。
通過檢測(cè)基板與封裝面的高低差，完成零件的組裝檢測(cè)。
鏡頭的組裝檢測(cè)
檢測(cè)鏡頭頂點(diǎn)與競(jìng)價(jià)的高低差，檢查組裝結(jié)果是否正確。
速度提高10倍
高速線
同時(shí)存在黑色和金屬面的檢測(cè)物體。圓柱形和形狀復(fù)雜的物體。
這些檢測(cè)對(duì)象的位置不同，其激光反射量、反射監(jiān)督也存在差異，因此很難清晰且穩(wěn)定地再現(xiàn)輪廓。
歐姆龍*“多靈敏度感應(yīng)功能”在解決上述問題中頗受評(píng)，且該功能變得更為。
更簡(jiǎn)單，更高精度的形狀測(cè)量。
穩(wěn)定測(cè)量難以檢測(cè)的顏色、材質(zhì)與復(fù)雜形狀
通過存儲(chǔ)卡或串行通信保存到計(jì)算機(jī)中，有助于管理記錄和趨勢(shì)監(jiān)控以及分析不合格產(chǎn)品。
支持多品種、小批量
可向控制器本體輸入zui多16個(gè)（16個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)）測(cè)量條件。
只需通過信號(hào)輸入/指令輸入/按鍵操作即可進(jìn)行數(shù)據(jù)庫(kù)切換。
如果使用數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元，更可以輸入zui多4096個(gè)數(shù)據(jù)庫(kù)，即使在品種繁多的線上，也可快速對(duì)應(yīng)各種測(cè)量。
而ZG2具有超高靈敏度，能*減輕外部光線的干擾，從而舉解決該難題。
配備的APS功能，可根據(jù)周圍照明環(huán)境自動(dòng)調(diào)節(jié)感光靈敏度和背景消除水平等參數(shù)，輕松且準(zhǔn)確地再現(xiàn)形狀輪廓。

進(jìn)口歐姆龍形狀測(cè)量傳感器 ，日本OMRON傳感器說明書
實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。此外，段曝光時(shí)間下也可進(jìn)行測(cè)量，從而對(duì)應(yīng)移動(dòng)物體的檢測(cè)。
傾斜的透明物體、反光面
對(duì)于反光面和透明物體等正反射較強(qiáng)的測(cè)量對(duì)象，如果稍有傾斜，光反射量就會(huì)驟減，導(dǎo)致測(cè)量變得不穩(wěn)定。
而配置高高斯透鏡探頭的ZG2-WDS3VT課解決該問題。傾斜對(duì)應(yīng)范圍比此前型號(hào)擴(kuò)大2.5倍，
可在zui大±5°傾斜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量。使用與檢測(cè)鏡頭與玻璃板等的組裝。 
電子零件的組裝檢測(cè)
同時(shí)測(cè)量多點(diǎn)
可從輪廓圖形中zui多任意選取8點(diǎn)，進(jìn)行同步測(cè)試，因此能夠組合所需檢測(cè)項(xiàng)目。
從寬度、高度、傾斜度、高低差、假面面積等共20種測(cè)量項(xiàng)目中針對(duì)性地組合選擇。
測(cè)量定位困難的物體
對(duì)于定位困難的測(cè)量對(duì)象，可對(duì)位置和傾角進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償。穩(wěn)定測(cè)量
保存測(cè)量結(jié)果的趨勢(shì)管理
推出數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元?？杀４鏈y(cè)量值和輪廓數(shù)據(jù)。
構(gòu)造簡(jiǎn)單
安裝簡(jiǎn)便。只需要安裝傳感器探頭與控制器，即可投入使用。
圖層面、黑色橡膠
較暗涂層面和黑色橡膠等難以反射光線，其顏色、材質(zhì)使傳感器探頭受光量不足，
易受到外部光線的干擾，因此以往的激光測(cè)量床干起難以測(cè)量此類物體。
設(shè)置、設(shè)定
簡(jiǎn)化設(shè)置傳感器探頭時(shí)的調(diào)整工序
“設(shè)置補(bǔ)償功能”可自動(dòng)將傳感器探頭與測(cè)量對(duì)象調(diào)整到同水平位置。
消除設(shè)置時(shí)基準(zhǔn)面與探頭間產(chǎn)生的傾斜偏差，大幅度縮短設(shè)置探頭時(shí)調(diào)整時(shí)間。