目錄:上海倍藍(lán)光電科技有限公司>>粒子物性評(píng)價(jià)系統(tǒng)>> 多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA
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更新時(shí)間：2025-04-15 10:02:38瀏覽次數(shù)：1149評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池 |
|---|
多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA利用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。
可對(duì)應(yīng)檢體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學(xué)系，輕便小型，實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。
特點(diǎn)
1、只需一臺(tái)，輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
2、低濃度到高濃度都可對(duì)應(yīng)
3、高速測量，標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
4、搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
5、多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA內(nèi)置非浸泡型的cell block，無分注夾雜物
6、搭載溫度梯度功能
測量范圍
1、粒徑 0.6nm～10μm
2、濃度范圍 0.00001～40％
3、溫度范圍 0～90℃*
產(chǎn)品規(guī)格
型號(hào) | 多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng) |
測量原理 | 動(dòng)態(tài)光散射法 |
光源 | 高出力半導(dǎo)體激光*1 |
檢出器 | 高感光度APD |
連續(xù)測量 | 5檢體 |
測量范圍 | 0.6nm ～ 10μm |
對(duì)應(yīng)濃度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
溫度 | 0 ～ 90℃ （有溫度梯度功能） *3 |
規(guī)格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
遵照J(rèn)IS Z 8828：2013 | |
遵照J(rèn)IS Z 8826：2005 | |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
重量 | 約18 kg |
軟件 | 平均粒徑解析 （累積法解析） |
粒度分布解析 | |
（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） |
1、根據(jù)激光安全基準(zhǔn) （JIS C6802）級(jí)別區(qū)分，本儀器的安全級(jí)別為1級(jí)。
2、Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%。
3、標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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