原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境...
原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。實(shí)現(xiàn)了...
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
原位TEM品桿 參考價(jià)：面議
原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 參考價(jià)：面議
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納...
原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量...
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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