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更新時(shí)間：2025-04-29 12:04:27瀏覽次數(shù)：61評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣 |
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JXA-iHP200F場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來(lái)越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng)，在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。
JXA-iHP200F能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作，是更優(yōu)良的一體化集成場(chǎng)發(fā)射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡(jiǎn)稱
JXA-iHP200F場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
主要特點(diǎn)
1. [Setting]
自動(dòng)定位，準(zhǔn)確安裝樣品臺(tái)！迅速找到想觀察的點(diǎn)！
進(jìn)樣和獲取樣品臺(tái)導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。
2. [Analysis]
充分的自動(dòng)功能，誰(shuí)都可以拍到高級(jí)的SEM像！
繁瑣的設(shè)定也能對(duì)應(yīng)，EPMA立馬進(jìn)行元素分析！
光學(xué)顯微鏡的自動(dòng)聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動(dòng)功能相結(jié)合，任誰(shuí)都可以拍到高級(jí)的SEM像。
通過(guò)【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡(jiǎn)單的EPMA】。
用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時(shí)間。
SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。
通過(guò)WD/ED integration，分析時(shí)間縮短的例子
integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
3. [Self Maintenance]
* 內(nèi)置18種類校正樣品，有效進(jìn)行校正！
* 配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時(shí)的人為失誤；利用夜間對(duì)儀器進(jìn)行校正，提高了工作效率。
* 按照【維護(hù)通知功能】，在必要時(shí)期對(duì)儀器進(jìn)行自我維護(hù)，保持設(shè)備優(yōu)良狀態(tài)。
維護(hù)通知功能【客戶支持工具】
4. 標(biāo)配場(chǎng)發(fā)射電子槍
能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結(jié)果。 在大電流下保持長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定的熱電子槍, 在短時(shí)間內(nèi)分析微量元素及整夜運(yùn)行分析大量樣品的時(shí)候，顯示出它的威力。
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