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塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)ZEM
——定量測量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻
產(chǎn)品介紹：
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的點，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用種儀器來測量。
產(chǎn)品點：
♦ 擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；
♦ 測量是由計算機控制的，并且能夠在定的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；
♦ 歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；
♦ 可以用適配器來測量薄膜；
♦ 可定制高阻型。
產(chǎn)品結構：
樣品腔部分：
工作原理圖：
應用方向：
對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。
可選功能：
1. 薄膜測量選件
2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）
3.高阻選件（可高達10MΩ）
參數(shù)配置：
| 型號 | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
| 溫度范圍 | 50-800℃ | 50-1000℃ |
| 樣品大小 | 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圓形φ2-4mm*6-22mmL | |
| 加熱方式 | 紅外加熱 | |
| 氣氛 | 高純氦氣（99.999%） | |
| 樣品溫差 | MAX.50℃ | |
| 測量方式 | 電腦全自動測量 | |
附：
熱電材料/器件測試設備
測試數(shù)據(jù)
燒結P型Si80Ge20塞貝克系數(shù)及電阻率測量結果
發(fā)表文章
1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945
2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407
3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114
4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810
5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.
用戶單位
清華大學
中國科學技術大學
上海交通大學
復旦大學
南方科技大學
武漢理工大學
中國科學院上海硅酸鹽研究所
中國科學院大連化學物理研究所
