BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位分析儀
- 公司名稱 廣東森德儀器有限公司
- 品牌 Bettersize/百特
- 型號 BeNano 180 Zeta Max
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/4/8 21:45:40
- 訪問次數(shù) 135
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電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES/ICP-AES，超聲波探傷儀，傅里葉變換紅外光譜儀FITR，熱重分析儀，實時活細胞成像系統(tǒng)，手持光譜儀，直讀光譜儀，紫外分光光度計，核酸提取儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 10萬-30萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標
粒徑檢測(動態(tài)光散射法)
| 粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
| 最小樣品量 | 3 μL |
| 檢測角度 | 173 °+90 ° + 11.2° |
| 分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
沉降法粒度測試
| 檢測方法 | 沉降法 |
| 粒徑范圍 | 1μm-50μm |
| 檢測角度 | 0° |
| 樣品量 | 1-3ml |
Zate電位測試
| Zeta范圍 | 無實際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm |
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
| 測試能力 | 均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
趨勢測試
| 模式 | 時間和溫度 |
濃度檢測
| 檢測方法 | LEDLS |
| 測試能力 | 體積分數(shù)和數(shù)量濃度 |
折光率測試
| 檢測方法 | 楔形池樣品折射（無需示蹤粒子） |
| 檢測角度 | 0° |
| RI范圍 | 1.2-1.6 |
| 精度 | 優(yōu)于0.1% |
| 最小樣品量 | 380 μL |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
| 激光器 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm（不同波長激光器可選） |
| 相關器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍 |
| 檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管）+PD+CMOS |
| 光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
納米粒度及Zeta電位分析儀檢測參數(shù)
動態(tài)光散射
●流體力學尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測試
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態(tài)光散射
● 絕對分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
●動靜態(tài)流動模式
BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風險。
●BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結構變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
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