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2023
02-07白光干涉儀（三維光學(xué)輪廓儀）原理及應(yīng)用介紹
原理照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個(gè)表面反射的兩束光相互干涉，在CCD相機(jī)感光面會(huì)觀察到明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的亮度取決于兩束光的光程差，根據(jù)白光干涉條紋明暗度以及干涉條紋出現(xiàn)的位置計(jì)算出被測(cè)樣品的相對(duì)高度，從而得到樣品表面的三維尺寸信息。如下圖所示。白光干涉儀的優(yōu)點(diǎn)非接觸式測(cè)量，不損傷樣品；測(cè)試效率高，幾秒鐘成像，自動(dòng)分析結(jié)果；高度方向分辨率高，在不同物鏡下均可達(dá)0.1nm，實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)的測(cè)量；優(yōu)異的重復(fù)性；分析功能強(qiáng)大，簡(jiǎn)便易用；優(yōu)異的擴(kuò)展性。2022
12-14AFM電磁學(xué)工作模式及對(duì)應(yīng)探針型號(hào)
AFM電磁學(xué)工作模式及對(duì)應(yīng)探針型號(hào)PART.1ConductiveAFM導(dǎo)電原子力顯微鏡ConductiveAFM(cAFM)—導(dǎo)電原子力顯微鏡（CAFM）是一種源自接觸AFM的二次成像模式，它表征了中到低導(dǎo)電和半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電率變化。CAFM的電流范圍為pA至μA。PART.2TunnelingAFM峰值力隧穿原子力顯微鏡TunnelingAFM(TUNA)—峰值力隧穿原子力顯微鏡（TUNA）的工作原理與導(dǎo)電AFM相似，但具有更高的靈敏度。TUNA表征了通過薄膜厚度的超低電流（80fA和1202022
11-15德國Bruker微區(qū)X射線熒光光譜儀應(yīng)用分享
1.設(shè)備應(yīng)用簡(jiǎn)介BrukerM4Tornado微區(qū)X射線熒光光譜儀是樣品成分分析、成分分布規(guī)律研究的新利器。成分的分布規(guī)律研究可以給學(xué)者從宏觀、微觀、微宏觀結(jié)合等多個(gè)角度提供新的研究思路。目前該設(shè)備已經(jīng)在植物環(huán)境、科技考古、地球科學(xué)、材料科學(xué)、生物工程、刑事等領(lǐng)域有著諸多的應(yīng)用案例。該設(shè)備在國內(nèi)外有專業(yè)的應(yīng)用開發(fā)人員，專注于新應(yīng)用領(lǐng)域的開發(fā)。2.主要功能：BrukerM4Tornado可以對(duì)大塊、不均勻、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性元素分析（C6-Am95）。采用多導(dǎo)2022
11-092022
09-282022
09-082022
08-27Bruker CRONO應(yīng)用于平面及穹頂壁畫研究的新方式
什么是CRONO？BRUKERCRONO是一款可移動(dòng)式、非接觸、大面積掃描型X射線熒光光譜儀，它沒有封閉腔、不受被測(cè)物體的位置、外形、尺寸等限制，可以根據(jù)文物的具體形狀和位置自由定位。采用設(shè)備探頭移動(dòng)，文物不動(dòng)的形式掃描，工作距離為10mm，因此可實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量并且無損。單次掃描范圍可達(dá)600mmx450mm。電動(dòng)支架可以設(shè)置任何角度的測(cè)量，并且易于拆卸運(yùn)輸。CRONO還可以安裝在輕型三腳架上，轉(zhuǎn)換為便攜式單點(diǎn)XRF光譜儀。因此，CRONO是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的良好選擇。"顏料的成分是什么？這種顏料是畫2022
07-29布魯克Dektak-XT接觸式表面輪廓儀在晶圓測(cè)試方面的應(yīng)用
自2014年起，國產(chǎn)12寸晶圓的量產(chǎn)問題得到解決，國產(chǎn)晶圓進(jìn)入到一個(gè)飛速發(fā)展的時(shí)期中。晶圓作為芯片的載體，在當(dāng)今科技時(shí)代起著至關(guān)重要的作用，小到遙控器、手機(jī)，大到航天領(lǐng)域，例如衛(wèi)星等都離不開晶圓。那么晶圓的加工工藝是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)決定了成品的優(yōu)劣。今天筆者就為大家介紹BrukerDektak-XT接觸式表面輪廓儀在晶圓方面的測(cè)試應(yīng)用。BrukerDektak-XT接觸式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）作為Dektak系列第十代產(chǎn)品，經(jīng)過50多年的更新升級(jí)及技術(shù)創(chuàng)新，目前已成為使用廣泛的接觸式表面檢測(cè)設(shè)備，有著眾2022
07-08布魯克Dektak XT探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）
自1968年臺(tái)階儀DektakⅠ面世以來，迄今已有50多年的發(fā)展歷程。通過整合技術(shù)，突破創(chuàng)新，Dektak系列臺(tái)階儀已經(jīng)來到了第十代，目前我們主要有兩種型號(hào):桌面式DektakXT（圖1），樣品兼容可到8寸；另外一款是集成了防震臺(tái)一體化的落地式DektakXTL，它的兼容樣品可以達(dá)到12寸（圖2）。布魯克第十代Dektak產(chǎn)品在過去五十年不斷的技術(shù)創(chuàng)新，得到眾多使用客戶的認(rèn)可。圖1圖2臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4?DektakXT是使用single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀，single-arch設(shè)計(jì)及2022
06-272022
05-262022
05-20?布魯克手持光譜儀在廢舊金屬回收行業(yè)的應(yīng)用
廢舊金屬回收是指從廢舊金屬中分離出來的有用物質(zhì)經(jīng)過物理或機(jī)械加工成為再生利用的制品，是從回收、拆解、到再生利用的一條完整產(chǎn)業(yè)鏈及再生利用生態(tài)圈，實(shí)現(xiàn)了資源的有效利用。由于廢舊金屬種類繁多，具有高價(jià)值的廢舊金屬往往難以快速分辨，導(dǎo)致從事廢舊金屬回收企業(yè)在很多時(shí)候產(chǎn)生了利益損失，此時(shí)，我們可以使用手持式熒光光譜儀針對(duì)來料進(jìn)行快速分辨，從而減少企業(yè)不必要的損失，提高回收效率及利潤。攜帶方便操作簡(jiǎn)便布魯克手持光譜儀整機(jī)質(zhì)量不超過1.5KG，采用扳機(jī)操作系統(tǒng)，不僅攜帶便捷靈活，無任何操作經(jīng)驗(yàn)的人也可快速上2022
05-17微區(qū)XRF在植物環(huán)境中的應(yīng)用
無機(jī)元素含量及其動(dòng)態(tài)分布特征，可揭示植物樣品生理代謝過程的可能途徑。研究植物根、莖和葉樣品表面的元素微區(qū)分布特征還可以指示生態(tài)環(huán)境系統(tǒng)中有害元素的來源及遷移途徑，為進(jìn)一步加工處理以降低其有害元素含量提供依據(jù)。微區(qū)元素分析元素微區(qū)分析目前已廣泛應(yīng)用于植物環(huán)境、礦物分析、表面材料和文物考古等諸多方面。主要方法有微區(qū)X射線熒光(Micro-XRF)、X射線熒光顯微分析(XFM)、帶電粒子誘發(fā)X射線熒光分析(PIXE)及電子探針分析(EPMA)等。其中，微區(qū)XRF技術(shù)具有樣品無需復(fù)雜前處理、適用較大微區(qū)2022
05-11電子順磁共振波譜儀（EPR）應(yīng)用丨石英表面反應(yīng)性
石英是地殼中分布較廣的礦物之一，而且在地表環(huán)境中分布相當(dāng)廣泛。石英-水界面作用對(duì)天然水體中金屬離子的遷移轉(zhuǎn)化、成礦熱液中成礦元素的遷移富集和礦物分選工藝等方面起著重要作用。許多研究表明，石英對(duì)金屬離子的吸附反應(yīng)可用表面配位模式進(jìn)行擬合。但是，這些宏觀實(shí)驗(yàn)方法不能確定被吸附離子在礦物表面具體的結(jié)合形態(tài)，也就是說不能從微觀上確定礦物對(duì)金屬離子吸附的反應(yīng)機(jī)理。經(jīng)過深入研究發(fā)現(xiàn)，隨著礦物表面離子吸附覆蓋率的改變，金屬粒子的結(jié)合形態(tài)將會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變化，并且因?yàn)榈V物表面和水溶液的性質(zhì)不同而異，可能會(huì)以單核吸2022
04-122022
03-28Bruker Dektak XT臺(tái)階儀在半導(dǎo)體芯片中的應(yīng)用
臺(tái)階儀（探針式輪廓儀）通過記錄探針在物體表面的垂直位移，從而達(dá)到測(cè)量物體表面臺(tái)階高度、粗糙度等物理參數(shù)的目的。主要用于薄膜材料厚度（2D）測(cè)量和表面形貌測(cè)量（3D）。臺(tái)階儀可獲得定量的臺(tái)階高度、線粗糙度、薄膜曲率半徑，測(cè)量薄膜應(yīng)力等。BrukerDektakXT臺(tái)階儀由于其操作簡(jiǎn)單、分辨率高及重復(fù)性良好等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛用于半導(dǎo)體、微電子、太陽能、LED、觸摸屏、醫(yī)療等領(lǐng)域。BrukerDektakXT臺(tái)階儀有以下特點(diǎn)：高度方向采用的LVDT線性位移傳感器，該傳感器因其結(jié)構(gòu)為無接觸式，使其具有無摩擦2022
03-14開放式微區(qū)X射線熒光光譜儀在顏料中的應(yīng)用
X射線熒光分析技術(shù)由于其分析速度快，可測(cè)元素范圍廣，無損檢測(cè)等優(yōu)點(diǎn)被廣泛應(yīng)用于科技考古領(lǐng)域。而微區(qū)X射線熒光分析技術(shù)將光學(xué)圖像與元素分布成像很好的結(jié)合，為科研工作者提供了新的分析手段。Bruker開放式微區(qū)X射線熒光光譜儀M6Jetstream能夠?qū)Υ蟪叽缥奈镞M(jìn)行原位、無損掃描分析，尤其適用于油畫顏料、壁畫、古建筑保護(hù)等方向，在測(cè)試過程中不受樣品尺寸及不規(guī)則形狀的限制，用于鑒定文物的年代、真?zhèn)?、產(chǎn)地、制作工藝以及如何進(jìn)行文物保護(hù)等。顏料自古以來都是進(jìn)行裝飾、繪畫創(chuàng)作和生產(chǎn)加工的重要材料，也是彩繪2022
03-112021
09-142021
08-26掃一掃訪問手機(jī)商鋪
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