Mechanical Devices開發(fā)生產(chǎn)并向主要半導(dǎo)體器件制造商提供創(chuàng)新的成本效益熱控制單元，以測試IC器件。其中，Max TC廣泛應(yīng)用于芯片可靠性測試領(lǐng)域，包括但不限于材料特性分析、溫度循環(huán)測試、快速溫變測試、溫度沖擊測試以及失效分析等可靠性試驗(yàn)。它特別適用于對芯片進(jìn)行高溫、低溫或高低溫環(huán)境下的性能測試，以確保芯片在各種惡劣條件下的穩(wěn)定性和可靠性。

       Max tc測試時出現(xiàn)溫度不穩(wěn)定的情況，可能由多種因素導(dǎo)致，主要有一下原因:

1.設(shè)備自身問題

電源不穩(wěn)定：電源電壓波動可能導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部溫度控制不穩(wěn)定。

傳感器故障：溫度傳感器損壞或精度下降，無法準(zhǔn)確反映測試頭的實(shí)際溫度。

控制系統(tǒng)問題：控制系統(tǒng)故障或參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，導(dǎo)致溫度控制不穩(wěn)定。

2.測試環(huán)境干擾

外部溫度波動：測試環(huán)境溫度的波動可能影響設(shè)備的溫度穩(wěn)定性。

空氣流通不暢：測試設(shè)備周圍的空氣流通不暢，可能導(dǎo)致溫度分布不均。

電磁干擾：電磁干擾可能影響設(shè)備的溫度控制精度。

3.測試樣品問題：

樣品與測試頭接觸不良：樣品與測試頭之間的接觸不良可能導(dǎo)致熱量傳遞不暢，從而影響溫度穩(wěn)定性。

樣品自身熱效應(yīng)：樣品在測試過程中可能產(chǎn)生熱量，導(dǎo)致測試頭溫度升高。

       經(jīng)過我們工程師檢查發(fā)現(xiàn)是溫度傳感器接觸不良導(dǎo)致的，并且我們還檢查到氣缸冷頭在運(yùn)行時有漏氣的現(xiàn)象發(fā)生，通過更換損壞的溫度傳感器，和校準(zhǔn)傳感器以提高精度，Max tc測試時出現(xiàn)溫度不穩(wěn)定的情況已經(jīng)修復(fù)。

       我們的專業(yè)團(tuán)隊(duì)擁有數(shù)十年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，長期與國內(nèi)企業(yè)緊密合作。我們提供全國范圍內(nèi)的Max TC接觸式高低溫沖擊機(jī)設(shè)備故障的快速支持，并可在我們的工廠進(jìn)行高標(biāo)準(zhǔn)的維修、保養(yǎng)及改造（重建）服務(wù)。

       我們的專業(yè)知識和經(jīng)驗(yàn)意味著我們能專業(yè)的為大多數(shù)接觸式高低溫沖擊機(jī)應(yīng)用與維修提供全面的建議和支持。通過設(shè)計和改造的系統(tǒng)（根據(jù)現(xiàn)場環(huán)境定制或配置），我們可以提供一個完整的系統(tǒng)解決方案。