增強的波長范圍 以前的型號是濾光片型波長選擇,但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗證的光譜儀,現(xiàn)在可以選擇任何波長。 薄膜厚度變化的信號從電壓輸出更改為與個人計算機兼容的數(shù)字輸出,控制機構(gòu)由個人計算機的命令控制,而不是手動作。 此外,通過I/F直接連接個人計算機的薄膜測厚儀本體進行控制,因此沒有其他制造商的控制器,因此是一個非常緊湊的系統(tǒng)。 長處 緊湊的設計,帶有集成光譜儀 提高抗噪性,實現(xiàn)可靠的膜厚監(jiān)測(靜電放電測試耐壓 ±5kV) 可通過 PC 的命令自動控制 控制器內(nèi)置于接收器本體中,以實現(xiàn)高性價比。
型式 | OMD-1000 型 |
光譜儀類型 | Czerny-Turner單色 |
波長范圍 | 保修范圍:380~900nm工作 范圍:350~1100nm |
波長分辨率 | surito0.5mm:4.2nm[546nm] surito1.0mm:8.3nm[546nm] |
波長精度 | ±1.0納米 |
最小波長饋源 | 0.1 納米 |
外部控制 | RS232C 控制器 |
外部輸出端子 | DC0~2V(滿量程) |
采樣間隔 | 100ms 或更長 |
靜電放電測試耐壓 | ±5 kV(實際電壓為 8 kV) |
光源 | 12V100W 鹵素燈 |
光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
輸入電壓 | AC100V 50/60Hz |
允許的輸入電壓 | AC85~132V 交流 |
視在功率 | 340VA 或更低 |
使用環(huán)境 | 溫度:10~35°C,濕度 :20~80% |
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