一、測(cè)試原理

高低溫沖擊熱流儀通過(guò)氣流控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)快速溫度變化，模擬產(chǎn)品在溫度環(huán)境下的耐受性。其核心原理包括：

1. 氣流密閉空間形成

• 試驗(yàn)機(jī)輸出高溫或低溫氣流，通過(guò)氣流罩將被測(cè)樣品包裹，形成密閉測(cè)試腔。

• 氣流在腔內(nèi)循環(huán)，使樣品表面溫度快速均勻變化，完成高低溫沖擊試驗(yàn)。

2. 局部獨(dú)立沖擊

• 針對(duì)元器件（如IC芯片）可單獨(dú)隔離測(cè)試，避免對(duì)周邊器件造成影響。

• 溫變速率可達(dá)30~40℃/min，遠(yuǎn)超傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱。

3. 制冷與加熱系統(tǒng)

• 制冷：采用雙級(jí)復(fù)疊式壓縮機(jī)或電子膨脹閥調(diào)節(jié)制冷量，結(jié)合無(wú)氧銅管焊接技術(shù)，確保低溫工況下能耗降低30%。

• 加熱：通過(guò)高功率加熱管快速升溫，配合溫度傳感器實(shí)時(shí)反饋，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)控溫。
  
  

4. 振動(dòng)與降噪設(shè)計(jì)

• 壓縮機(jī)安裝彈簧減振器，制冷管道采用圓弧彎設(shè)計(jì)，避免振動(dòng)導(dǎo)致泄漏。

• 機(jī)箱內(nèi)壁覆蓋波浪狀消音海綿，運(yùn)行噪音低于60dB。

二、測(cè)試方法

高低溫沖擊測(cè)試主要分為兩箱法和三箱法，具體步驟如下：

1. 兩箱法

• 操作流程：

1. 將樣品置于測(cè)試箱中，通過(guò)閥門(mén)快速切換高溫/低溫氣流方向。

2. 樣品在高溫箱和低溫箱之間交替轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)溫度沖擊。

• 適用場(chǎng)景：

• 適用于體積較小、可快速轉(zhuǎn)移的樣品。

• 溫變速率較高，但溫度均勻性略低于三箱法。

2. 三箱法

• 操作流程：

1. 樣品固定于測(cè)試箱中心位置，高溫和低溫氣流分別通過(guò)獨(dú)立管道進(jìn)入。

2. 通過(guò)調(diào)節(jié)氣流比例，實(shí)現(xiàn)溫度的快速升降。

• 適用場(chǎng)景：

• 適用于大尺寸樣品或需保持樣品靜止的測(cè)試。

• 溫度均勻性優(yōu)于兩箱法，但溫變速率略低。

3. 測(cè)試參數(shù)設(shè)置

• 溫度范圍：根據(jù)需求設(shè)定高溫（如+150℃）和低溫（如-70℃）極限值。

• 駐留時(shí)間：樣品在高溫或低溫環(huán)境中的停留時(shí)間（如5分鐘）。

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間：溫度切換的過(guò)渡時(shí)間（如10秒）。

• 循環(huán)次數(shù)：設(shè)定溫度沖擊的重復(fù)次數(shù)（如100次）。

4. 數(shù)據(jù)記錄與分析

• 測(cè)試過(guò)程中，設(shè)備自動(dòng)記錄溫度曲線、樣品外觀變化（如裂紋、變形）及功能特性（如電氣參數(shù)）。

• 通過(guò)數(shù)據(jù)分析，評(píng)估產(chǎn)品在溫度下的可靠性，為改進(jìn)設(shè)計(jì)提供依據(jù)。

三、技術(shù)優(yōu)勢(shì)

• 快速溫變：從-55℃到+125℃的轉(zhuǎn)換時(shí)間僅需10秒，滿足高要求測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

• 節(jié)能設(shè)計(jì)：采用氣液旁路調(diào)節(jié)、蒸發(fā)溫度調(diào)節(jié)等技術(shù)，低溫恒溫時(shí)無(wú)需加熱平衡，運(yùn)行功率降低50%。

• 安全保護(hù)：具備壓縮機(jī)吸排氣壓力自動(dòng)保護(hù)、過(guò)載保護(hù)等功能，延長(zhǎng)設(shè)備壽命。

四、應(yīng)用領(lǐng)域

• 電子行業(yè)：測(cè)試電路板、芯片、電池等在溫度下的性能。

• 汽車工業(yè)：評(píng)估汽車零部件在高溫、低溫環(huán)境下的可靠性。

• 航空航天：模擬航天器在太空中的溫度條件。

• 材料科學(xué)：研究材料在熱脹冷縮下的物理和化學(xué)變化。

通過(guò)高低溫沖擊熱流儀的測(cè)試，可有效發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷，提升產(chǎn)品在實(shí)際使用中的穩(wěn)定性和壽命。