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桌面式X射線衍射儀(XRD)主要用于材料結(jié)構(gòu)分析，涵蓋物相、晶體結(jié)構(gòu)、應(yīng)力、織構(gòu)、薄膜、納米結(jié)構(gòu)、動(dòng)態(tài)相變和非晶態(tài)分析。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域。
桌面式X射線衍射儀(XRD)的工作原理基于X射線衍射的基本原理，即當(dāng)X射線照射到晶體上時(shí)，晶體內(nèi)部的原子或電子會(huì)散射這些射線，形成以各原子為中心的散射波。由于晶體中的原子是周期性排列的，這些散射波之間會(huì)產(chǎn)生固定的相位關(guān)系，導(dǎo)致在某些方向上散射線相互加強(qiáng)，形成衍射斑點(diǎn)，而在其他方向上則相互抵消。這種空間干涉現(xiàn)象就是X射線衍射的物理基礎(chǔ)。
X射線衍射技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域，用于探究物質(zhì)的物相與晶體結(jié)構(gòu)。其非破壞性、無污染、有效且高精度的特點(diǎn)，使其成為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的重要現(xiàn)代科學(xué)方法。
主要功能和應(yīng)用領(lǐng)域
物相分析：通過衍射圖譜確定材料的晶體結(jié)構(gòu)，并分析混合物中各物相的比例。
晶體結(jié)構(gòu)分析：測定晶體的晶胞尺寸和形狀，確定晶體的對稱性和空間群。
應(yīng)力分析：測量材料中的殘余應(yīng)力及其分布。
織構(gòu)分析：分析多晶材料中晶粒的取向分布。
薄膜分析：測定薄膜厚度和界面結(jié)構(gòu)，分析薄膜中的應(yīng)力狀態(tài)。
納米結(jié)構(gòu)研究：研究材料中的納米級結(jié)構(gòu)，如孔隙和顆粒。
動(dòng)態(tài)相變觀察：實(shí)時(shí)觀察材料在溫度或壓力變化下的相變過程。
非晶態(tài)材料分析：研究非晶態(tài)材料的短程有序結(jié)構(gòu)。
桌面式X射線衍射儀憑借其小型化、高精度和多功能特點(diǎn)，已成為材料科學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域重要的分析工具。
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