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掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)通過(guò)MEMS芯片對(duì)樣品施加熱場(chǎng)控制，在原位樣品臺(tái)內(nèi)構(gòu)建熱場(chǎng)自動(dòng)控制及反饋測(cè)量系統(tǒng)，結(jié)合EDS、EBSD等多種不同模式，實(shí)現(xiàn)從納米甚至原子層面實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)樣品在真空環(huán)境下隨溫度變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變、元素價(jià)態(tài)、微觀應(yīng)力以及表/界面處的原子級(jí)結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息。
應(yīng)用：
1、材料科學(xué)研究：用于研究材料在高溫下的力學(xué)性能、變形、斷裂等失效機(jī)制的微觀過(guò)程，為新材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供重要支持。
2、工程材料設(shè)計(jì)：通過(guò)實(shí)時(shí)觀察材料在不同應(yīng)力條件下的微觀結(jié)構(gòu)和變化過(guò)程，為工程材料的疲勞壽命預(yù)測(cè)和性能提升提供依據(jù)。
3、納米材料研究：結(jié)合納米力學(xué)測(cè)試技術(shù)，實(shí)時(shí)觀察納米材料的變形和斷裂行為，揭示其特殊的力學(xué)特性。
4、材料相變與晶體生長(zhǎng)：通過(guò)加熱或冷卻不同材料，實(shí)時(shí)觀察材料的相變過(guò)程和晶體生長(zhǎng)機(jī)制，有助于對(duì)材料結(jié)構(gòu)與性能的影響進(jìn)行深入了解。
掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)是應(yīng)用廣泛的科研儀器，在材料科學(xué)研究、工程材料設(shè)計(jì)等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。
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