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鎖相紅外顯微成像系統可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。
鎖相紅外顯微成像系統在多個領域發(fā)揮著重要作用：
1、實驗室研發(fā)：在實驗室環(huán)境中，該系統可用于研發(fā)階段的故障定位和分析，幫助研究人員快速找到問題所在，提高研發(fā)效率。
2、IC產品設計：在IC產品設計階段，鎖相紅外顯微成像系統可用于檢測潛在的缺陷和故障點，確保產品的質量和可靠性。
3、電路失效分析：對于已經出現故障的電路，該系統能夠準確快速地定位失效點，為后續(xù)的修復和改進提供有力支持。
4、半導體制造：在半導體制造過程中，鎖相紅外顯微成像系統可用于檢測晶圓、封裝器件等的失效點，提高生產效率和產品質量。
隨著電子產品的小型化、集成化以及異質集成、多芯片模組等封裝技術的發(fā)展，元器件的沒有損失效定位變得越來越困難。鎖相紅外顯微成像技術以其低噪聲、高精確度、高效率的優(yōu)勢，在失效分析領域發(fā)揮著越來越重要的作用。未來，隨著技術的不斷進步和市場的不斷拓展，鎖相紅外顯微成像系統的應用前景將更加廣闊。
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