MiniTest 700系列提供多種校準方法，以滿足各種應用，程序和工業(yè)標準的個性化要求。 如果正在創(chuàng)建批次，則可以為此批次選擇合適的校準方法。 您可以在創(chuàng)建批次后或在以后的測量模式下立即執(zhí)行校準。 要在測量模式下調(diào)用校準功能，請按功能鍵CAL。 只要在當前活動的批次中沒有存儲讀數(shù)，就可以更改校準方法。

為了確保*校準，應遵循以下幾點：

1、正確的校準對于測量至關重要。對于校準，應使用類似于待測物體的樣品，即校準樣品和待測量對象應具有相同的形狀和幾何形狀。通常，您可以說，校準樣品和后續(xù)測量對象的相似度越高，讀數(shù)越準確，因此讀數(shù)的準確度將越高。

2、確保校準樣品和后續(xù)被測物體具有相同的特性，如： - 與表面相同的基體材料相同的曲率半徑（如導磁率，導電性;在理想情況下，應由相同的材料制成）材料） - 相同的基板厚度 - 測量面積相同的尺寸。

3、開始校準之前，請確保校準點，傳感器和校準標準清潔。如有必要，請清除任何積聚物，如油脂，金屬屑等。任何雜質(zhì)都可能會影響校準，導致校準錯誤。

4、確保校準位置和測量位置始終相同，特別適用于小零件的測量和邊緣和角落的測量。

5、在校準過程中遠離強磁場。

6、為了zui大的校準精度和以后的測量，請選擇與后續(xù)測量樣品相同厚度范圍內(nèi)的校準標準厚度。

7、根據(jù)磁感應法（用F1.5，F(xiàn)N1.5，F(xiàn)5，F(xiàn)N5或F15傳感器）測量鋼鐵或黑色金屬基底上厚厚的有色金屬涂層，必須進行多點校準。 厚度標準必須與待測物體的金屬相同。

8、如果使用校準箔，請確保它們位于基材上的平面位置。 必須避免箔片下面的任何氣隙，否則會導致讀數(shù)不穩(wěn)定。 如果箔彎曲，請確保將其放置在基板上，如下所示。

精密厚度標準必須小心處理。 任何厚度標準的磨損都將反映為不規(guī)則的校準值。 不要折疊校準箔。 任何彎曲將導致箔下面的氣隙，導致讀數(shù)不穩(wěn)定。 保持厚度標準清潔，不含油脂，油，灰塵或其他積聚物。 箔片上的積聚將被認為是厚度，并且將導致與積聚厚度相同值的測量誤差。 給你一個粗略的想法：從指紋的積累將足以增加一些微米的額外的厚度。