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原位掃描電鏡（SEM）的應用原理主要是利用電子成像來觀察樣品的表面形貌。當一束極細的高能電子束在試樣上掃描時，與試樣相互作用產生各種物理信息，如二次電子、背散射電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、透射電子等。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
SEM的分辨率高于光學顯微鏡的分辨率，因為電子的波長遠小于光的波長。此外，SEM還可以進行樣品表面的元素分析，如C、S、N等元素的分布情況。
在具體應用中，原位掃描電鏡可以用于材料科學、生物學、醫(yī)學等領域的研究和質量控制。例如，在材料科學領域，SEM可以觀察金屬、陶瓷、高分子等材料的表面形貌和微觀結構；在生物學領域，SEM可以觀察細胞和組織的表面形貌和結構；在醫(yī)學領域，SEM可以用于疾病診斷和藥物研發(fā)等。
原位掃描電鏡的應用原理是通過電子束與樣品相互作用產生各種物理信息，對這些信息進行接收、放大和顯示成像，從而獲得試樣表面形貌和結構的信息。
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