開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部絕緣缺陷
引起開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部發(fā)生故障的原因不是單一的,開(kāi)關(guān)柜設(shè)備在生產(chǎn)、安裝過(guò)程中,留下一些微小的缺陷在所難免,此外在設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中也會(huì)產(chǎn)生缺陷。在運(yùn)行一定年限后,開(kāi)關(guān)柜絕緣部件會(huì)由于老化等多種原因產(chǎn)生絕緣性能下降,導(dǎo)致局部放電現(xiàn)象的發(fā)生,進(jìn)而可能造成開(kāi)關(guān)柜絕緣故障。開(kāi)關(guān)柜故障會(huì)直接造成母線短路、出線停電等嚴(yán)重事故。在實(shí)際生產(chǎn)中,開(kāi)關(guān)柜放電故障引起缺陷,造成絕緣放電的主要包括如下幾個(gè)方面:
(1)在制造和安裝過(guò)程中造成導(dǎo)體、外殼內(nèi)表面上的金屬突起、毛刺,形成放電尖刺。造成這類故障的可能原因有:加工時(shí)不良、外力破壞或安裝時(shí)的刮蹭。這類缺陷對(duì)設(shè)備運(yùn)行的危害相對(duì)小一些,但當(dāng)設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間經(jīng)受過(guò)電壓等不良工況時(shí),仍舊會(huì)存在設(shè)備擊穿的可能,這類缺陷應(yīng)根據(jù)實(shí)際信號(hào)的幅值綜合判定;
(2)絕緣缺陷和老化造成絕緣內(nèi)部氣隙形成的氣隙放電。大多數(shù)絕緣故障是由于絕緣子空穴引起的。絕緣子表面缺陷通常是由別的類型缺陷造成的二次損傷,如機(jī)械振動(dòng)造成的裂紋、局部放電后產(chǎn)生的分解物、金屬微粒引起的故障等;
(3)絕緣子表面臟污。經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后,受到運(yùn)行環(huán)境的影響,絕緣子表面存在污染物,伴隨較高空氣濕度等不良運(yùn)行環(huán)境,則會(huì)在絕緣子表面發(fā)生電場(chǎng)畸變,導(dǎo)致局部放電的產(chǎn)生,繼而導(dǎo)致沿面閃絡(luò);
(4)高壓接觸不良,包括高壓母線連接處、高壓開(kāi)關(guān)主電路觸頭、斷路器觸頭等。開(kāi)關(guān)柜設(shè)備的器件體積與重量一般較大,在運(yùn)輸、搬運(yùn)和安裝等過(guò)程中,由于機(jī)械振動(dòng)、組件的互相碰撞等外力的作用,可能使原本緊固的設(shè)備松動(dòng)、元件變形或損傷,觸頭變形,組件連接不到位,稍有疏忽就可能會(huì)造成絕緣放電;
(5)安裝環(huán)境不良,導(dǎo)致柜體內(nèi)部存在懸浮金屬顆粒。開(kāi)關(guān)柜設(shè)備安裝在開(kāi)放環(huán)境中,內(nèi)部的微粒、異物無(wú)法*的清除掉,異物的產(chǎn)生原因也可能是斷路器觸頭動(dòng)作或來(lái)自于設(shè)備內(nèi)部某些物質(zhì)分解。
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