FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測(cè)厚儀概述：

        X 射線熒光測(cè)試儀，帶有可編程的 X/Y平臺(tái)和Z軸，可自動(dòng)測(cè)量鍍層厚度和分析材料組分

FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測(cè)厚儀特點(diǎn)：

• 配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
• 使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)  
• 底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
• 有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

• 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
• 來料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控
• 研究和開發(fā)
• 電子工業(yè)
• 接插件和觸點(diǎn)
• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
• 可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
• 硬質(zhì)鍍層分析  

　　X射線測(cè)厚儀原理

　　XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。

　　X射線測(cè)厚儀適用范圍

　　XRAY測(cè)厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

　　菲希爾電解測(cè)厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。