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賽默飛電子顯微鏡

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fei雙束電子顯微鏡的基本工作原理

閱讀：348 發(fā)布時(shí)間：2024-11-7

　　fei雙束電子顯微鏡是一種結(jié)合了離子束和掃描電子顯微鏡的先進(jìn)成像技術(shù)。它利用離子束和電子束來對(duì)樣品進(jìn)行成像和加工，具有高分辨率、高靈敏度和高精度的優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。

　　fei雙束電子顯微鏡的基本工作原理如下：

　　1、離子束制備樣品表面：離子束主要用于樣品表面的加工和預(yù)處理。離子束可以清除樣品表面的氧化層或有機(jī)物，裸露出純凈的樣品表面。離子束還可以進(jìn)行局部蝕刻、切割、沉積等加工操作，為后續(xù)的電子顯微鏡成像提供高質(zhì)量的樣品表面。

　　2、電子束成像樣品表面：在樣品表面經(jīng)過離子束處理后，電子束開始對(duì)樣品進(jìn)行成像。電子束通過透鏡系統(tǒng)聚焦到樣品表面，掃描整個(gè)樣品表面并探測(cè)來自樣品的散射電子。這些散射電子被接收器捕獲并轉(zhuǎn)換成圖像，形成高分辨率的顯微圖像。

　　3、離子束精確加工樣品區(qū)域：在電子束成像的過程中，如果需要對(duì)樣品進(jìn)行進(jìn)一步加工或處理，離子束可以精確地定位到目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行局部加工。通過調(diào)節(jié)離子束的能量和劑量，可以實(shí)現(xiàn)納米尺度的加工、切割、沉積等操作，幫助研究人員深入了解樣品的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。

　　4、原位觀察和分析：還具有原位觀察和分析的能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行局部的化學(xué)分析、表面形貌觀察等操作。這種能力使得研究人員可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品表面的變化，探索材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)之間的關(guān)系。

　　總的來說，fei雙束電子顯微鏡通過將離子束和電子束結(jié)合在一起，實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品的高分辨率成像和精確加工的功能，為研究人員提供了強(qiáng)大的工具來研究材料、生物樣品等的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。

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