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HR-AFM原子力顯微鏡

主要優(yōu)勢(shì)：

1、全新設(shè)計(jì)的KMD運(yùn)動(dòng)學(xué)結(jié)構(gòu)，降低了噪音水平，輕松實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率。

2、提供可視化下針系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，對(duì)新手友好。

3、提高了掃描速度，10秒出圖。

1.標(biāo)準(zhǔn)工作模式：

1.1輕敲模式(Vibration mode)

1.2接觸模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4橫向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲線測(cè)試（Force curve）可測(cè)楊氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測(cè)試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dǎo)電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門(mén)從事設(shè)計(jì)和制造原子力顯微鏡的專業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗(yàn)的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μmZ方向范圍：17 μm，7 μmXY方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.01 nmZ方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.003 nmZ方向測(cè)量噪音水平：0.03 nm樣品尺寸：直徑25