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貨物所在地:江蘇蘇州市
所在地: 日本
更新時(shí)間:2025-04-23 10:16:59
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/// 超越所見,探索未知 ///
JSM-IT710HR 降低荷電: 樣品提供:東京農(nóng)工大學(xué) 工學(xué)部生命工學(xué)科 朝倉哲郎先生
JSM-IT710HR 晶體結(jié)構(gòu)分析: 樣品提供:物質(zhì)材料研究所(NIMS) 津﨑 兼彰先生
新功能
1. 自動(dòng)觀察:Simple SEM/EDS
Simple SEM 通過一次設(shè)定多個(gè)條件來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試,提高了日常工作效率。
2. Live 3D: 實(shí)時(shí)3D
在低倍率下可以觀察3D活圖像。
3. JSM-IT710HR 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 低真空混合二次電子檢測(cè)器(LHSED)
LHSED是新型低真空檢測(cè)器,能夠在光發(fā)射信息和形貌像之間切換觀察。
4. 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍的穩(wěn)定性提高了4倍多
> 自動(dòng)電子束調(diào)整
JSM-IT7010HR從合軸到像散、對(duì)焦可以自動(dòng)調(diào)整,不需繁瑣的手動(dòng)。
> 二次電子檢測(cè)系統(tǒng)
左側(cè)樣品:孔雀羽毛, 右側(cè)樣品:纖維素微纖維
> 高分辨率和大束流
JSM-IT710HR的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍和聚光鏡一體化集成,在生成大束流的同時(shí)保持小束斑,能夠進(jìn)行高分辨觀察和分析。
> 背散射電子檢測(cè)系統(tǒng)
新型的多分割背散射檢測(cè)器可以同時(shí)從4個(gè)方向采集背散射信息,生成簡(jiǎn)單的3D像并實(shí)時(shí)顯示。
5. 所有分析都從Zeromag開始
使用Zeromag的光學(xué)像,視野搜尋能力提高;SEM像與光學(xué)像聯(lián)動(dòng),觀察、分析和自動(dòng)測(cè)試簡(jiǎn)單化。
6. JSM-IT710HR 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 EDS一體化集成
JEOL除了SEM,還自主生產(chǎn)和銷售EDS。利用這一優(yōu)勢(shì),可以集中操作和管理SEM的觀察畫面和EDS分析結(jié)果,操作性和數(shù)據(jù)管理能力得到了提高。
7. 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡相分析
JEOL的EDS增加了相分析功能,可以對(duì)每種物質(zhì)(化合物/單體)進(jìn)行面分布分析。
樣品:精密切削刀片的截面
相分析表明,Co、Cu和Sn富區(qū)組分存在差異。
Co area: 68.15%
CuSn (CuRich) area: 16.25%
CuSn (SnRich) area: 14.54%
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)