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化銀層測(cè)厚儀菲希爾代理，菲希爾X射線測(cè)厚儀是一種基于X射線穿透原理的測(cè)厚儀器。它通過(guò)測(cè)量X射線穿透材料后強(qiáng)度衰減的程度，來(lái)計(jì)算材料的厚度。菲希爾X射線測(cè)厚儀具有...

Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測(cè)厚儀，XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215測(cè)厚儀，先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層...

鍍銅層測(cè)厚儀，通過(guò)激光點(diǎn)，可以快速對(duì)準(zhǔn)需要測(cè)量的位置。儀器內(nèi)置高分辨率彩色攝像頭,簡(jiǎn)化了對(duì)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行對(duì)位的過(guò)程。

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菲希爾X射線鍍金層測(cè)厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237為每次測(cè)量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動(dòng)調(diào) 整的多個(gè)準(zhǔn)直器和基本濾片。比例接...

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer，由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)（大可達(dá) 80 mm），適用于測(cè)試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

菲希爾代理X射線測(cè)厚儀，F(xiàn)ischerscope X-ray XAN500，F(xiàn)ischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動(dòng)使用并且應(yīng)用廣泛的能...

菲希爾Fischer熒光射線測(cè)厚儀，一款頗具性價(jià)比的入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。

菲希爾熒光射線測(cè)厚儀，由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過(guò)軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHERSCOPE XULM-XYM，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。

Fischer測(cè)厚儀 熒光射線儀器，菲希爾全新 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® 系列不僅更換了全新的設(shè)計(jì)，性能也顯著提升5...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍...

Fischerscope X-ray XAN500菲希爾，XAN 500不僅僅是一個(gè)用于大型零件的測(cè)量系統(tǒng)。借助可選的測(cè)量箱，只需幾個(gè)簡(jiǎn)單的步驟即可將其轉(zhuǎn)換為臺(tái)...

菲希爾XAN310，可用于快速、無(wú)損地進(jìn)行鍍層測(cè)厚及材料分析。滿足DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)。作為一款手持式XRF分析儀，常適合在生...

菲希爾XAN250 X熒光射線測(cè)厚儀，高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x，配有非常*的硅漂移探測(cè)器(SDD)，可快速、無(wú)損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。

Fischerscope X-RAY XAN220，XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，...

Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測(cè)厚儀，通過(guò)組合可選的高壓和濾片，可以對(duì)較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍...

菲希爾Fischerscope X-RAY XDL230，X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，它非常適用于無(wú)...