EDX8000B熒光測厚儀應(yīng)用于金屬鍍層涂層材料成分和厚度分析
涂層分析可以告訴你很多關(guān)于材料、物品等的內(nèi)容。簡單的例子：可以測量由某種合金制成的細節(jié)的含量，而不會對其造成損壞。應(yīng)用分析的另一種方法是通過測量珠寶來識別有害或過多的雜質(zhì)和鍍金。涂層厚度分析幾乎可以應(yīng)用于重工業(yè)和輕工業(yè)、建筑、公用事業(yè)等的每個領(lǐng)域。
哪些行業(yè)必須進行涂層厚度測量？
電鍍厚度
由于使用 XRF 8000膜厚儀進行涂層厚度測量可以獲得準確的覆蓋層元素組成，因此其設(shè)備領(lǐng)域眾多：
控制生產(chǎn)質(zhì)量的輕重工業(yè)；
需要對金屬和合金含量和金屬分選進行精確測試的冶金；
油漆和清漆行業(yè)：生產(chǎn)中鉛濃度分析；
首飾：鑒別首飾中的鍍金和其他金屬。
至于鍍層厚度測試，XRF 分析廣泛用于公用事業(yè)服務(wù)和工業(yè)。在大多數(shù)情況下，它有助于猜測細節(jié)是否滿足所需的特征，這在某些領(lǐng)域（例如航空航天建筑）至關(guān)重要。
典型的涂層鍍層類型有：
· 鐵/鋼上鍍鋅；
· 鐵/鋼鍍鉻；
· 鐵/鋼鍍鎳；
· 鐵/鋼上鍍銅；
· 銅鍍金；
· 銅鍍鎳；
XRF 鍍層測厚儀EDX8000B如何測量涂層厚度和材料成分？
顧名思義，XRF 涂層厚度測試儀會發(fā)出 X 射線。這些射線使內(nèi)層用電子射向原子。該過程稱為電離。當來自原子涂層內(nèi)層的電子被彈出而電子不存在時，原子用圍繞原子核旋轉(zhuǎn)的外層電子代替它。這種替代會發(fā)出所謂的熒光輻射。涂層厚度測量設(shè)備感知這種輻射并用它構(gòu)建光譜。該光譜顯示在屏幕上，用戶可以在設(shè)置該涂層的主要元素時識別該涂層的厚度。 X 射線測厚儀成功地獨立于被測物體的形式和條件測量了單組分涂層。
使用 X 射線熒光鍍層測厚儀進行涂層測量的好處
自1928年（XRF分析發(fā)現(xiàn)年）以來，XRF金屬鍍層測厚儀設(shè)備得到了改進?，F(xiàn)在，這是一種非常有用和舒適的厚度分析方法，對用戶來說具有特殊的好處：涂層分析不會損壞材料：
無需切割涂層。
EDX8000鍍層厚度測試儀是一種多用途的移動工具：它可以分析各種形式和尺寸的物體。
分析本身進行得很快，可以為用戶提供非常準確的結(jié)果。
盡管有 X 射線應(yīng)用，但這種測試對用戶來說是安全的方法之一。輻射以最小的、無害的量釋放，方向與用戶正好相反。
X射線熒光分析設(shè)備是一種在不停止生產(chǎn)和不損壞被測物品的情況下測試涂層和材料的現(xiàn)代方法。
使用50 瓦 X 射線管的 EDXRF 的穿透深度
XRF可穿透厚度表 | ||
鍍層材料 | 基材 | Thickness厚度（μm) |
Al | Cu | 0-100.0 |
Cd | Fe | 0-60.0 |
Cu | Al | 0-30.0 |
Cu | Fe | 0-30.0 |
Cu | Plastic | 0-30.0 |
Au | Ceramic | 0-8.0 |
Au | Cu/Ni | 0-8.0 |
Pb | Cu/Ni | 0-15.0 |
Ni | Ceramic | 0-20.0 |
Ni | Cu | 0-20.0 |
Ni | Fe | 0-20.0 |
Pd | Ni | 0-40.0 |
Pd-Ni | Ni | 0-20.0 |
Pt | Ti | 0-8.0 |
Rh | Cu/Ni | 0-50.0 |
Ag | Cu/Ni | 0-50.0 |
Sn | Al | 0-60.0 |
Sn | Cu/Ni | 0-60.0 |
Sn-Pb | Cu/Ni | 0-25.0 |
Zn | Fe | 0-40.0 |
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