顯微分光膜厚儀是一種廣泛應(yīng)用于光學(xué)材料研究和工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域的高精度儀器，其主要功能是測量薄膜的厚度。
其主要特點(diǎn)包括：
(1)高精度：采用精密儀器算法，能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級的膜厚測量，保證了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
(2)非接觸式測量：薄膜在測量過程中無需直接接觸儀器，避免了外力對樣品造成的影響，同時(shí)保護(hù)了樣品的完整性。
(3)快速測量：具有快速的測量速度，可實(shí)時(shí)顯示膜厚數(shù)據(jù)，并能夠進(jìn)行自動化掃描和測量。
使用膜厚儀之前，需要先清潔檢測頭，避免灰塵或油脂對測試結(jié)果的干擾。清潔時(shí)應(yīng)注意以下事項(xiàng)：
1. 手柄和測試頭禁止強(qiáng)烈碰撞、振動或撞擊，以免影響測量精度。
2. 使用專用布清潔，禁止使用含有溶劑或刺激性強(qiáng)的清潔劑。
3. 清潔時(shí)應(yīng)輕輕擦拭，防止損傷檢測頭。如果不慎弄臟了檢測頭，可用濕紙巾擦拭，但需注意不要使用含水分的清潔劑或水。
存放膜厚儀時(shí)需注意以下事項(xiàng)：
1. 將膜厚儀放置在清潔、干燥、不受陽光直射和高溫潮濕影響的地方。
2. 對于不使用的膜厚儀，需將電池取出。
3. 長期不使用的膜厚儀需進(jìn)行定期充電，保證電池的壽命和穩(wěn)定性。
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