Micromeritics®TriStar® II Plus表面積和孔隙度測(cè)試儀可自動(dòng)并同時(shí)測(cè)量多達(dá)三個(gè)樣品，以減少分析時(shí)間，更快地提供數(shù)據(jù)。
TriStar II Plus
表面積和孔隙度測(cè)試儀
TriStar II Plus專為建立和維持穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境而設(shè)計(jì)。分析過(guò)程中無(wú)任何可移動(dòng)組件。由等溫夾套為測(cè)試提供溫度控制，簡(jiǎn)化操作的同時(shí)為用戶提供重復(fù)性高的測(cè)試結(jié)果。
Micromeritics MicroActive數(shù)據(jù)處理和控制軟件提供了簡(jiǎn)單易用的界面，可將數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)轉(zhuǎn)換為準(zhǔn)確的表面積和孔隙度信息。
觀看視頻，了解TriStar II Plus如何幫助您加快表面積和孔隙度測(cè)量！
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