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源測(cè)單元優(yōu)化小技巧
閱讀：348 發(fā)布時(shí)間：2021-12-28
源測(cè)單元由于其將可編程電源、可編程負(fù)載和DMM的功能集成到一臺(tái)儀器而日益普及。然而，大多數(shù)工程師只是表面上理解了SMU對(duì)其測(cè)試系統(tǒng)性能和吞吐量的影響。為了實(shí)現(xiàn)減少成本和測(cè)試時(shí)間的目標(biāo)，以下七個(gè)技巧可讓您更快速、更經(jīng)濟(jì)地分析和驗(yàn)證產(chǎn)品。SMU未達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)就開(kāi)始測(cè)量會(huì)導(dǎo)致不確定的測(cè)試結(jié)果，但等待過(guò)久又會(huì)浪費(fèi)寶貴的時(shí)間。這時(shí)，您可使用示波器或數(shù)字化儀來(lái)探測(cè)SMU 的輸出電平，同時(shí)將其連接到待測(cè)設(shè)備（DUT）以確保等待SMU達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)開(kāi)始測(cè)量的時(shí)間不會(huì)過(guò)短或過(guò)長(zhǎng)。
源測(cè)單元優(yōu)化小技巧：
1.針對(duì)每個(gè)待測(cè)設(shè)備自定義SMU的瞬態(tài)響應(yīng)
傳統(tǒng)SMU采用固定的模擬電路來(lái)配置電源的瞬態(tài)響應(yīng)或上升時(shí)間。 這種方法通常只提供兩種設(shè)置（正常和高電容）來(lái)自定義每個(gè)DUT的電源響應(yīng)，但并未針對(duì)DUT的特性進(jìn)行優(yōu)化。 NI PXIe-4139采用了NI SourceAdapt技術(shù)，以數(shù)字方式控制SMU的瞬態(tài)屬性，可很大限度提高穩(wěn)定性，減小過(guò)沖，并大大縮短測(cè)試時(shí)間。
2.使用自校準(zhǔn)提高測(cè)量重復(fù)性
大多數(shù)儀器的校準(zhǔn)周期是一到兩年，而在這段期間，儀器會(huì)慢慢偏移校準(zhǔn)點(diǎn)。 現(xiàn)代SMU能夠以已知信號(hào)的測(cè)量值為參考，比較兩個(gè)值之間的差后對(duì)儀器進(jìn)行數(shù)字調(diào)諧來(lái)達(dá)到校準(zhǔn)目的。 雖然這不會(huì)延長(zhǎng)校準(zhǔn)周期，但確實(shí)有助于克服SMU的時(shí)間和溫度漂移影響。
3.采用硬件定時(shí)的序列
軟件定時(shí)的序列是快速啟動(dòng)和運(yùn)行SMU進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量的一種有效方法。 但是，對(duì)于時(shí)間敏感序列，軟件抖動(dòng)會(huì)大大降低測(cè)試系統(tǒng)的確定性。 速度快的另一個(gè)好處是可以消除每次測(cè)量上位機(jī)和儀器之間的通信延遲。 而硬件定時(shí)的序列則可允許您更改每個(gè)步驟SMU的各種參數(shù)，如輸出模式、空隙時(shí)間、電流范圍和瞬態(tài)響應(yīng)。