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VCSEL測(cè)試儀器具有精度高、功耗低的優(yōu)點(diǎn)
閱讀：328 發(fā)布時(shí)間：2021-5-13
VCSEL測(cè)試儀器具有精度高、功耗低和結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，在信號(hào)處理方面，利用短時(shí)傅立葉變換對(duì)多普勒信號(hào)進(jìn)行頻譜分析，提高了系統(tǒng)噪聲適應(yīng)能力和信號(hào)處理速度；利用比值校正和小波變換相結(jié)合的方法提高系統(tǒng)測(cè)振精度。事實(shí)證明，位移誤差低于1%，實(shí)現(xiàn)了振動(dòng)位移和速度的精密測(cè)量。
為了抑制電路中的低頻旁路噪聲，在制作PCB時(shí)通常要在電壓的輸入端并聯(lián)上一個(gè)但電容和陶瓷電容來防止噪聲的耦合。再加上SMD的電容的寄生效應(yīng)較少，所以電源旁路電容通常選用貼片封裝的形式。
VCSEL測(cè)試儀器對(duì)時(shí)鐘的要求
時(shí)鐘電路關(guān)系到整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的時(shí)序，對(duì)測(cè)試過程至關(guān)重要。尤其是在進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，由采樣時(shí)鐘噪聲和抖動(dòng)引起的動(dòng)態(tài)誤差要遠(yuǎn)大于內(nèi)部孔徑抖動(dòng)所導(dǎo)致的動(dòng)態(tài)誤差。采樣時(shí)鐘信號(hào)的輕微抖動(dòng)也會(huì)造成信噪比的下降。采樣時(shí)鐘的相位和幅度很容易受到外部噪聲源的干擾。除此之外，時(shí)鐘電路還很容易受到電磁干擾的影響，因此要根據(jù)測(cè)試的要求對(duì)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行匹配測(cè)試。
VCSEL測(cè)試儀器已經(jīng)在數(shù)據(jù)通訊領(lǐng)域得到了大規(guī)模的成熟應(yīng)用，而智能手機(jī)等3D傳感應(yīng)用對(duì)VCSEL的爆炸式的需求來得如此迅猛。VCSEL產(chǎn)業(yè)鏈上下游廠商提供實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和驗(yàn)證所需的測(cè)試系統(tǒng)，以及產(chǎn)線使用的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備，還有品控使用的檢驗(yàn)設(shè)備。VCSEL是垂直腔面發(fā)射激光器，會(huì)需要電學(xué)特性和光學(xué)特性測(cè)試，是由成百上千個(gè)點(diǎn)組成的陣列，尺寸要大很多，不僅要保證壞點(diǎn)率在一定范圍之內(nèi)，且整個(gè)光斑的均勻度也有嚴(yán)格要求。