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日本日立 手持式光譜儀
X-MET8000 是一款手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀，可提供快速無損的分析以及準確的牌號識
別，實現理想的質檢和質保。
該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器 (SDD) 結合在一起，能夠為客戶提供各種質量檢驗 應用。
借助 X-MET8000，您可在數秒內得到實驗室質檢 結果，并降低檢測成本，縮短檢測時間。
分析結果值得您信任
X-MET8000 完美結合了通用的基本參數 (FP) 方法和經驗 系數法（可溯源的標準物質），可提供超高的分析精密度 和準確度。
性能優(yōu)異
該分析儀提供對輕元素（Mg 到 S）的出色分析，可快 速測試大多數商業(yè)用合金，包括鋁合金、硅和鋁青銅 等。其提供低檢測限制，可準確區(qū)別相近牌號（例如 303-304、6061-6063），并可在數秒內得到實驗室質 檢結果。
易于操作
直觀的圖標驅動式用戶顯示意味著操作員幾乎不需任 何培訓。該分析儀擁有便于快速制定決策的可自定義 結果屏幕，同時顯示您所需的重要信息。
該分析儀具備輕便性（1.5 千克），采用了符合人體工 學的設計，因此操作舒適，適合日常使用。屏幕方便 操作員閱讀，即使在陽光直射下也不受影響，且可在 穿戴手套的情況下操作。
準確
樣品尺寸自動補償，可準確測試直徑小至 1 毫米的管材、 桿體、線材，以及焊縫、緊固件、車削下腳和碎屑等。
日本日立 手持式光譜儀
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