EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B體積小、穩(wěn)定性好、分析快速、運行成本低、操作維護方便、是控制產品質量的理想選擇?？?strong style="margin: 0px; padding: 0px;">測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器，通過智能激發(fā)和檢測設計實現高靈敏度，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法，適用于不同的應用場合。

應用領域

EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B應用于RoHS檢測分析。

采用的是X射線熒光分析原理，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

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融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的性能得到。

經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。

基本參數法（FP法）：儀器根據實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。

 

進口硬件

1	美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
2	美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
3	美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
4	美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
5	美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好