詳細(xì)介紹
日立SU-8010 二手掃描電鏡特點(diǎn):
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力,1kv分辨率可達(dá)1.3nm
2. 日立的ExB設(shè)計(jì),不需噴鍍,可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品
3. 配置Lower、Upper和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器
4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像
5. 可以根據(jù)樣品類型和觀測(cè)要求選擇打開或關(guān)閉減速功能
6. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器,物鏡光闌具有自清潔功能
7. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶自行完成
日立SU-8010 二手掃描電鏡主要技術(shù)指標(biāo):
二次電子分辨率1.0nm(加速電壓15kV、WD=4mm)1.3nm(加速電壓1kV、WD=1.5mm)加速電壓 0.1~30kV觀測(cè)倍率 20~8000,000(底片輸出)60~2,000,000樣品臺(tái)馬達(dá)驅(qū)動(dòng) 3軸馬達(dá)行程 X 0~50mmY 0~50mmZ 360°T -5~70°R 1.5~30mm最大裝載尺寸 100mm(最大)
主要功能:
Hitachi SU-8010場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用了新型ExB式探測(cè)器和電子束減速功能,提高了圖象質(zhì)量(15 kV下分辨率1 nm),尤其是將低加速電壓下的圖象質(zhì)量提高到了新的水平(1 kV下1.4 nm);新型的透鏡系統(tǒng),提高了高分辨模式、高速流模式、大工作距離模式等多種工作模式,使其能夠精確和清楚地捕捉最短暫的瞬間。
項(xiàng)目 | SU8020 | SU8030 | SU8040 | |||||
二次電子分辨率 | 1.0nm (加速電壓15kV、WD=4mm) | |||||||
1.3nm (加速電壓1kV、WD=1.5mm) | ||||||||
加速電壓 | 0.1~30kV | |||||||
觀測(cè)倍率 | 20~8000,000(底片輸出) | |||||||
60~2,000,000(顯示器輸出) | ||||||||
樣品臺(tái) | ||||||||
馬達(dá)驅(qū)動(dòng) | 5軸 | REGULUS樣品臺(tái) | ||||||
行程 | X | 0~50mm | 0~110mm | |||||
Y | 0~50mm | 0~110mm | 0~80mm | |||||
Z | 360° | |||||||
T | -5~70° | |||||||
R | 1.5~30mm | 1.5~40mm | ||||||
zui大裝載尺寸 | 100mm(zui大) | 150mm(zui大) | 150mm(zui大) | |||||
150mm(選配) | 200mm(選配) | |||||||
探頭 | ||||||||
標(biāo)配 | Lower | 高立體感圖像 | ||||||
Upper | 高分辨SE、LA-BSE圖像 | |||||||
Top | SE的電位襯度像、HA-BSE圖像 | |||||||
| STEM | 明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像 | ||||||
YAG 探頭 | BSE圖像 | |||||||
半導(dǎo)體探頭 | BSE圖像 | |||||||
EBIC | 電子束感生電流圖像 | |||||||
EDS | 元素分析 | |||||||
反污染措施 | ||||||||
冷指 | 標(biāo)配 | |||||||
物鏡光闌 | 內(nèi)置自清潔功能 | |||||||
電子槍 | 內(nèi)置加熱器 | |||||||
真空系統(tǒng) | ||||||||
離子泵 | 3臺(tái) | |||||||
分子泵 | 1臺(tái) | |||||||
機(jī)械泵 | 1臺(tái) |