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PSS粒度儀技術優(yōu)勢
PSS粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎上升級配套而來，采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有優(yōu)勢。
技術優(yōu)勢：
1、靈敏度PMT檢測器；
2、可搭配不同功率光源；
3、精確度高，接近樣品真實值；
4、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；
5、結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；
6、無需校準；
7、復合型算法：
(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換
8、模塊化設計便于維護和升級；
(1)可自動稀釋模塊(選配)；
(2)自動進樣系統(tǒng)(選配)；
(3)搭配多角度檢測器(選配)。