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A-5000-3553雷尼紹測針*
A-5000-3553雷尼紹測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在【詳細(xì)】
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A-5000-3626英國雷尼紹測針
A-5000-3626英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了【詳細(xì)】
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A-5000-7629雷尼紹測針*
A-5000-7629雷尼紹測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在【詳細(xì)】
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A-5003-4788英國RENISHAW三坐標(biāo)測針
A-5003-4788英國RENISHAW三坐標(biāo)測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5000-7811英國雷尼紹測針
A-5000-7811英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了【詳細(xì)】
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英國雷尼紹A-50033609測針技術(shù)參數(shù)
英國雷尼紹A-50033609測針技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5003-0074*雷尼紹測針
A-5003-0074*雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在【詳細(xì)】
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M-5000-7779雷尼紹測針*
M-5000-7779雷尼紹測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在【詳細(xì)】
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M-5000-4162雷尼紹三坐標(biāo)測針*
M-5000-4162雷尼紹三坐標(biāo)測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確【詳細(xì)】
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M-5000-3647雷尼紹測針技術(shù)參數(shù)
M-5000-3647雷尼紹測針技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確【詳細(xì)】
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M-5000-7634英國雷尼紹三坐標(biāo)測針
M-5000-7634英國雷尼紹三坐標(biāo)測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,【詳細(xì)】
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A-5003-2291雷尼紹測針*
A-5003-2291雷尼紹測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在【詳細(xì)】
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英國雷尼紹RENISHAW測針A-5003-0073
英國雷尼紹RENISHAW測針A-5003-0073TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細(xì)】
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A-5000-7812雷尼紹三坐標(biāo)測針工作原理
A-5000-7812雷尼紹三坐標(biāo)測針工作原理TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元【詳細(xì)】
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A-5000-8876*英國雷尼紹測針
A-5000-8876*英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保【詳細(xì)】
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A-5000-3600雷尼紹RENISHAW測針*
A-5000-3600雷尼紹RENISHAW測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,【詳細(xì)】
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A-50034780*英國雷尼紹三坐標(biāo)測針
A-50034780*英國雷尼紹三坐標(biāo)測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,【詳細(xì)】
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A-50034779*雷尼紹三坐標(biāo)測針
A-50034779*雷尼紹三坐標(biāo)測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保【詳細(xì)】
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A-5003-1370英國雷尼紹紅寶石測針
A-5003-1370英國雷尼紹紅寶石測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,【詳細(xì)】
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A-50032291雷尼紹三坐標(biāo)測量機(jī)技術(shù)參數(shù)
A-50032291雷尼紹三坐標(biāo)測量機(jī)技術(shù)參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子【詳細(xì)】
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