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日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀

X射線管位于分析樣品上方，zui大程du減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn)，并且無需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到最佳。

特點(diǎn)

• 實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析

• 高精度定位樣品臺(tái)滿足合金分析高精度要求

• 特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差

• 樣品室可簡單移出方便清潔

• 操作界面簡潔、自動(dòng)化程度高

ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素。

高于光學(xué)元件的管道，可靠性更高

ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時(shí)間。

高精度樣品定位

樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應(yīng)用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析，旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差，如熔融珠和壓制顆粒

使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)

EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準(zhǔn)確，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和完mei的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。

特征

• 元素從O到U的分析

• 管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化

• 占地面積小，使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限

• 高精度樣品定位

• 特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差

• 統(tǒng)計(jì)過程控制軟件工具（SPC）

• 吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率