使用涂層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定有哪些？

閱讀：1257發(fā)布時(shí)間：2021-10-22

　　使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量厚度的時(shí)候盡量遵循哪些原則來(lái)降低誤差率呢？接下來(lái)我們就來(lái)具體了解一下。

　　在使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)候盡量使用被測(cè)材料來(lái)作為調(diào)零的基體，以避免由于不同的材料而導(dǎo)致導(dǎo)磁性不同，而出現(xiàn)測(cè)量誤差。等到在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零以后，再進(jìn)行相同部位的測(cè)量，如在側(cè)臉工件邊緣及中間部分時(shí)應(yīng)當(dāng)分別調(diào)零。

　　在利用涂層測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候還應(yīng)當(dāng)注意探頭和被測(cè)料面保持垂直，以免產(chǎn)生大的誤差。若是測(cè)量的同一個(gè)點(diǎn)，可將探頭每次都離開(kāi)10公分以上，間隔幾秒以后再進(jìn)行測(cè)量，以免被測(cè)材料探頭磁化而影響測(cè)量結(jié)果。

　　涂層測(cè)厚儀作為調(diào)零用的表面需要盡量保持光滑，如果表面不光滑，應(yīng)當(dāng)視情況取平均值，因?yàn)楸砻娲植诙葘?duì)測(cè)量的數(shù)值影響較大。結(jié)構(gòu)不同應(yīng)分別進(jìn)行調(diào)零測(cè)量，平面調(diào)零側(cè)臉平面，測(cè)量凹面調(diào)零后測(cè)量，測(cè)量凸面調(diào)零后進(jìn)行測(cè)量，避免由于結(jié)構(gòu)不同而在測(cè)量上產(chǎn)生誤差。

　　使用涂層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定有哪些？

　　1.金屬特性

　　對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)母材的磁性能和表面粗糙度應(yīng)與試樣的母材的磁性能和表面粗糙度相似。

　　2，金屬厚度

　　檢查母材的厚度是否超過(guò)臨界厚度。如果不是，請(qǐng)使用3.3中的一種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　3.邊緣效果

　　不得在試件的突然變化（例如邊緣，孔和內(nèi)角）附近進(jìn)行測(cè)量。

　　4.曲率

　　不應(yīng)在試件的彎曲表面上進(jìn)行測(cè)量。

　　5，表面清潔度

　　前在測(cè)量之前，請(qǐng)清除表面上所有附著的物質(zhì)，例如灰塵，油脂和腐蝕產(chǎn)物，但請(qǐng)勿除去任何覆蓋材料。

　　6，讀數(shù)數(shù)

　　由于儀器的讀數(shù)并不*相同，因此必須在每個(gè)測(cè)量區(qū)域中獲取多個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異還要求在任何給定區(qū)域進(jìn)行多次測(cè)量，尤其是在表面粗糙的情況下。

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