 | 北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司 |
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詳細(xì)摘要：儀器使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。1.★檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。2.★接通電源調(diào)零，（注意此時(shí)主機(jī)不得與屏蔽箱線路連接）在“Rx
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詳細(xì)摘要：絕緣材料電阻率測(cè)試儀電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)
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詳細(xì)摘要：絕緣材料體積表面電阻率測(cè)定儀電阻量程從1×104Ω ～1×1018Ω， 電流測(cè)量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為DC10V、50V
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詳細(xì)摘要：塑料薄膜表面電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。量限從1×104Ω
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詳細(xì)摘要：本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。量限從1×104Ω～1×1
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詳細(xì)摘要：表面體積電阻測(cè)試儀量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍Z寬，準(zhǔn)確度Z高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。
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詳細(xì)摘要：*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。
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詳細(xì)摘要：適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量微弱電流。
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測(cè)試儀廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。
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詳細(xì)摘要：一、概述ZJD-C介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串
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詳細(xì)摘要：體積表面電阻測(cè)定儀（ZST-121）符合標(biāo)準(zhǔn)：?????????GB1410《固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法》???????? ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試
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詳細(xì)摘要：符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻
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詳細(xì)摘要：一 概述 本儀器既可測(cè)量超高電阻，又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí)直接顯示流過(guò)被測(cè)電阻的電流。電阻量程從1×104
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詳細(xì)摘要：本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。
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詳細(xì)摘要：一、符合標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍：*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)
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詳細(xì)摘要：本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國(guó)
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詳細(xì)摘要：本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量微弱電流。
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詳細(xì)摘要：符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻
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詳細(xì)摘要：一、符合標(biāo)準(zhǔn)及適用范圍：*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)
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詳細(xì)摘要：符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻
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北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司主營(yíng)產(chǎn)品：電壓擊穿試驗(yàn)儀-介電常數(shù)測(cè)試儀
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