 | 北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司 |
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：介質(zhì)損耗角正切值測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器. 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：儀器遵從標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5594.4-1985 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥17000
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詳細(xì)摘要：ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥17000
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詳細(xì)摘要：塑料薄膜工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗QS37型西林電橋。主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。主要可以測量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tg)和電容量( Cx)以，其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成，本電橋特別適應(yīng)測量各類絕緣油和絕緣材料的介損（tg）及介電常數(shù)（ε）。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥10000
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詳細(xì)摘要：ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：ZJD-A所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T1409《測量電氣絕緣材料在工頻,音頻,高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB7770等試驗(yàn)方法.它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試. 產(chǎn)品型號：ZJD-B所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價(jià)：¥16000
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北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司主營產(chǎn)品：電壓擊穿試驗(yàn)儀-介電常數(shù)測試儀
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