Focus On Microscopy 2016（FOM 2016）是一次顯微技術(shù)的年度會(huì)議。該會(huì)議不僅展示的顯微技術(shù)，而且還展示這些新技術(shù)在生物、醫(yī)藥和材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用。

會(huì)議時(shí)間：2016 年 3 月 20 日 - 23 日

會(huì)議地點(diǎn)：國(guó)立中國(guó)臺(tái)灣大學(xué)醫(yī)學(xué)院附設(shè)醫(yī)院

此次飛納臺(tái)式電鏡參加 FOM 2016，將在會(huì)上展示飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛。

2015 年，飛納電鏡制造商荷蘭 Phenom-World 正式推出兩款性能的臺(tái)式電鏡，飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 和飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛。新產(chǎn)品繼承了飛納臺(tái)式掃描電鏡*優(yōu)勢(shì)，例如采用高亮度的 CeB6 燈絲，顯著提升電鏡分辨率；快速抽真空；快速成像；彩色光學(xué)導(dǎo)航；全自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)等。

同時(shí)拓展了其他功能，例如飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 電鏡腔室為 100 mm X 100 mm，一次可容納至少 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)；提供高、中、低三級(jí)真空，標(biāo)配高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器，可以選配二次電子探測(cè)器。

飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛通過熒光快速定位，電鏡高倍觀察，并在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)獲得樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)信息。飛納臺(tái)式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡 Delphi 德飛采用對(duì)射光路結(jié)構(gòu)，無需轉(zhuǎn)移樣品，運(yùn)用的圖像自動(dòng)疊加，關(guān)聯(lián)。從樣品裝載到獲取光電關(guān)聯(lián)圖像的時(shí)間小于 3 分鐘。傳統(tǒng)的關(guān)聯(lián)技術(shù)是通過兩臺(tái)顯微鏡來實(shí)現(xiàn)的，德飛將兩種顯微鏡的功能集成到一臺(tái)顯微鏡中。

飛納臺(tái)式電鏡預(yù)祝 Focus On Microscopy 2016（FOM 2016）取得圓滿成功！