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全自動掃描電鏡滿足電子顯微拓展的分析需要
全自動掃描電鏡滿足電子顯微拓展的分析需要
全自動掃描電鏡采用統(tǒng)一的優(yōu)良電子光學(xué)技術(shù)，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質(zhì)量，可升級為亮度提高10倍的更的電鏡，實現(xiàn)納米尺度形貌快速表征。
全自動掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)配置五軸優(yōu)中心全自動樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）、波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰熒光（CL）等探測器附件。全自動掃描電鏡是一款媲美歐美大型掃描電鏡，功能強大的電子顯微分析平臺，相對歐美同類產(chǎn)品具有很高性價比。
全自動掃描電鏡專門的經(jīng)濟型、拓展能力強的大型樣品倉掃描電鏡，高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征，五軸全自動，大批量分析測試，率，一體化設(shè)計，可隨時移動。全自動掃描電鏡可接配所有規(guī)格及高性能，具有大型掃描電鏡的分析效果，可輕易實現(xiàn)立體對圖像采集，重構(gòu)3D形貌像。
全自動掃描電鏡廣泛應(yīng)用于冶金、機械、陶瓷、化工、半導(dǎo)體、電子器件、紡織、生物學(xué)等行業(yè)領(lǐng)域，適用于科學(xué)研究，工業(yè)產(chǎn)品失效分析，產(chǎn)品可靠性控制。先進的電子光學(xué)性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標(biāo)準(zhǔn)或者非標(biāo)準(zhǔn)探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現(xiàn)用戶對材料的微觀分析。
全自動掃描電鏡適合大批量樣品快速分析測試，需要多種分析附件原位分析，大塊樣品測試，簡便的操作控制軟件，全鼠標(biāo)鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得佳圖像質(zhì)量。全自動掃描電鏡采用立方結(jié)構(gòu)樣品室，拓展為中型樣品倉，具有更大有效分析空間，全內(nèi)置五軸優(yōu)中心自動樣品臺，具有更大的自由行程，更好滿足電子顯微拓展分析需要。