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MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀說(shuō)明書(shū)
最近更新時(shí)間：2020-11-4
提 供 商：深圳市偉峰儀器儀表有限公司資料大?。?/span>1.1MB
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MiniTest1100涂鍍層測(cè)厚儀
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)特征
| 型號(hào) | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值) |
| 1 | 10 | 99 |
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
| 1 | 500 | 500 |
| 數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
| √ | √ | √ |
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
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| √ | √ |
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
|
| √ | √ |
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
|
| √ | √ |
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
|
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| √ |
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
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| √ | √ |
| 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
| √ | √ | √ |
| 其他功能 | ||||
| 設(shè)置極限值 |
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| √ | √ |
| 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別*大*小值 |
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| √ | √ |
| 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
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| √ | √ |
| 連續(xù)測(cè)量模式中顯示*小值 |
|
| √ | √ |
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100涂鍍層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
| 探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | *小曲率半徑 | *小測(cè)量 | *小基 | 探頭尺寸 | |
| 磁
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
| 電
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無(wú)限制 | φ17x80mm | |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。