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　　接觸熱阻測試儀是先進的熱測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。該儀器基于先進的測試方法，通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化，在變化過程中，儀器測試出芯片的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線，僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關(guān)于該電子器件的全面的熱特性。
 

　　接觸熱阻測試儀的應(yīng)用范圍：
 

　　1、各種三極管、二極管等半導(dǎo)體分立器件，包括：常見的半導(dǎo)體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。
 

　　2、各種復(fù)雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結(jié)構(gòu)。
 

　　3、各種復(fù)雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風(fēng)扇等。
 

　　4、半導(dǎo)體器件結(jié)溫測量。
 

　　5、半導(dǎo)體器件穩(wěn)態(tài)熱阻及瞬態(tài)熱阻抗測量。
 

　　6、半導(dǎo)體器件封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析，包括器件封裝內(nèi)部每層結(jié)構(gòu)(芯片+焊接層+熱沉等)的熱阻和熱容參數(shù)。
 

　　7、半導(dǎo)體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準確定位封裝內(nèi)部的缺陷結(jié)構(gòu)。
 

　　8、材料熱特性測量(導(dǎo)熱系數(shù)和比熱容)。
 

　　9、接觸熱阻測量，包括導(dǎo)熱膠、新型熱接觸材料的導(dǎo)熱性能測試。
 

　　隨著電池、電子封裝等相關(guān)設(shè)備的普及，功率的增加，廢熱管理，如何降低熱損變得越來越重要。如何管理好這些復(fù)雜的熱系統(tǒng)并不容易，需要對界面材料有根本的認識。