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| 參 考 價(jià)： | 面議 |
產(chǎn)品型號：Redux / nGauge
品 牌：其他品牌
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商
所 在 地：國外
更新時(shí)間：2025-04-10 20:13:45瀏覽次數(shù)：2801
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便攜式原子力顯微鏡
——AFM納米形貌表征從未如此簡單！
ICSPI公司在便攜式nGauge原子力顯微鏡（AFM）的基礎(chǔ)上進(jìn)行了全新升級，推出了新一代的便攜式原子力顯微鏡Redux。Redux原子力顯微鏡（AFM）除了具有方便攜帶，操作簡單，掃描速度快，可掃描大尺寸樣品，無需維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)，還可以迅速找到感興趣的測量位置，實(shí)現(xiàn)相關(guān)區(qū)域的快速高精度測量。適合各類納米表征應(yīng)用場景，從科學(xué)研究、高等教育到工業(yè)用戶的樣品3D表面形貌快速成像分析等，革命性的創(chuàng)新技術(shù)的降低了傳統(tǒng)AFM的復(fù)雜操作，也的拓寬了傳統(tǒng)AFM的應(yīng)用范圍！
適合各類納米表征應(yīng)用場景
半導(dǎo)體工業(yè)
材料工業(yè)
納米技術(shù)
生命科技
涂料，聚合物和復(fù)合材料等
高等教育
......
產(chǎn)品特點(diǎn)
更小巧，更便攜
AFM微納機(jī)電芯片，使得Redux/nGauge原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)僅有公文包大小，可隨身攜帶。
更簡單，更易用
只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)三次即可獲得樣品表面納米級形貌信息，無需配置減震平臺(tái)。
第一步：通過內(nèi)置光學(xué)顯微鏡尋找掃描區(qū)域；
第二步：Redux/nGauge幫助掃描探針自動(dòng)尋找樣品表面；
第三步：點(diǎn)擊掃描，獲取樣品表面形貌信息。
維護(hù)簡單，性價(jià)比高
類金剛石針尖保證AFM探針超長壽命，且無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護(hù)工作。
Redux采用的壓電AFM探針技術(shù)以及耐用的探針針尖（左圖）。中圖為一根探針第215次掃描樣品的結(jié)果，右圖為第1164次掃描樣品的結(jié)果
設(shè)備參數(shù)：
Redux AFM
左：Redux原子力顯微鏡（AFM）；右：Redux原子力顯微鏡實(shí)際使用場景
Redux微型原子力顯微鏡n5（噪聲基底優(yōu)于0.5nm）
Redux微型原子力顯微鏡n7（噪聲基底優(yōu)于0.15nm）
產(chǎn)品特點(diǎn)
快速：1分鐘內(nèi)便可獲取樣品信息
易用：掃描只需點(diǎn)擊三次鼠標(biāo)
簡單：全新升級的X, Y和Z定位系統(tǒng)
技術(shù)參數(shù)
| AFM技術(shù)參數(shù) | |
| 最大掃描范圍(XY) | 20 μm x 20 μm |
| 最大掃描高度(Z) | 10 μm |
| 掃描速度 | 80 秒 (256 x 256 pixel, 20 μm x 20 μm) |
| 噪音基底 | <0.5nm 或 <0.15 nm |
| XY掃描分辨率 | <0.5 nm |
| 樣品臺(tái)參數(shù) | |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 105 mm x 95 mm x 20 mm |
| 可移動(dòng)范圍 | 10 mm x 10 mm |
| 光學(xué)顯微鏡參數(shù) | |
| 物鏡 | 10x, 0.25 NA |
| 視場 | 2.25 mm × 1.25 mm |
| 分辨率 | 1920 x 1080 FHD Video output |
| 整體尺寸 | |
| 尺寸 (長x 寬 x 高) | 23.2 cm × 22.0 cm × 24.6 cm |
| 重量 | 4 kg |
| 軟件需求 | |
| 連接方式 | USB |
| 操作系統(tǒng) | Windows 10, 11 |
| 電源 | |
| 電壓 | 100-240 VAC ~ 50/60 Hz |
| 電流 | 12 VDC, 5 A |
nGauge AFM
成像類型：形貌圖，相位圖
XY 掃描區(qū)域：100 µm × 100 µm
XY 掃描分辨率：<0.5 nm
Z向掃描范圍：10 µm
快速掃描成像時(shí)間：16 秒
可表征樣品大尺寸：100 mm x 50 mm x 20 mm
可表征樣品大重量：1 kg
各表征手段對比
Redux/nGauge AFM | 傳統(tǒng) AFM | SEM | |
大氣環(huán)境下運(yùn)行 |
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自動(dòng)尋找樣品表面 |
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| N/A |
設(shè)備安裝時(shí)間 | 5 分鐘 | 1-2 周 | 1-2 周 |
掃描樣品時(shí)間 | 2 分鐘 | 1 小時(shí) | 30 分鐘 – 1 小時(shí) |
隨測隨走 |
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培訓(xùn)時(shí)間 | 1 小時(shí) | 12+ 小時(shí) | 12+ 小時(shí) |
無需激光對準(zhǔn) |
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普通市電/USB供電 |
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更換探針難度 |
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| N/A |
3D表面形貌成像 |
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成像分辨率 |
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不導(dǎo)電樣品表征 |
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測試數(shù)據(jù)
微柱陣列三維成像
二氧化硅聚合物復(fù)合材料相掃描結(jié)果
半間距為200nm的光柵形貌表征
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元納米結(jié)構(gòu)三維形貌表征
丹麥Akasel公司檢測鋼鐵拋光樣品表面
美國Biotech公司表征皮膚樣本
美國Applied Nanotool公司微納光學(xué)器件品控
光電子域器件檢測
發(fā)表文章
1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.
2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.
3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.
4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.
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